在智能手机、新能源汽车、5G基站等高密度电子设备中,芯片与外部电路的电气连接是确保设备正常运作的核心环节。作为半导体封装领域的“隐形桥梁”,引线键合(Wire Bonding)技术通过微米级金属线实现芯片与基板间的信号传输,其工艺精度直接影响器件性能与可靠性。这项诞生于20世纪60年代的技术,至今仍是全球90%以上集成电路封装的主流方案。
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