进行布线和夹具设计时,考虑系统安全性也很重要。为了确定操作人员以及仪器会遇到什么危险,要对各种故障情况进行思考,包括因操作人员失误以及因器件状态变化而带来的故障。大电流测试的潜在危险之一是火灾或或烧伤
一旦系统建立完毕,就要对其功能进行测试,并优化仪器建立,以获得最佳测量。对于开启状态特性分析在当今进行的大部分开启状态特性分析中,为了实现最小热量,都对器件施加脉冲信号。此外,许多功率半导体器件的最终
当同时使用多个仪器时,对待测器件的源和测量时序进行协调非常重要。因此,利用可用的软件方案、以简化和/或避免昂贵的编程,是非常有利的。利用商家提供的免费启动软件验证测试系统配置和功能。2600A与2650A系列源
利用测试夹具对封装器件进行测试吉时利8010型大功率器件测试夹具与2651A以及2657A型大功率系统数字源表一起完善了功率半导体器件测试解决方案。图1给出源测量单元(SMU)仪器与8010型夹具的连接图。在8010型互连参考指
测量误差的来源是由测试系统的精度、以及在对OLED给出信号和进行测量期间所未曾想到的瞬态过程引起的。在进行快速的生产测试时,在稳定状态下进行精确DC测量的能力,是与尽可能快地完成测试的需求相互牵制的。测试周
虽然示波器不是对硬件要求最高的仪器,鉴于示波器是众多工程师最熟悉也是测试仪器细分市场最大的单台仪器,所以我们采访了全球能将示波器带宽做到GHz级别厂商中的几家代表,从示波器的硬件分析入手,带大家一起了解
为了实现 Gb/s 级链路吞吐量,新的制式使用更高带宽、多路输入多路输出(MIMO)、空时编码和高阶正交频分复用(OFDM)调制制式,这对无线元器件的线性、带宽和功耗提出了新的要求。以802.11 ac为例,该标准构建在 802
我们曾对采用四个2400的测试系统的测试速度、小电流和小电压测量精度,在一系列不同的测量时间间隔条件下(即不同的NPLC设定参数)进行过特征化测试。NPLC参数与测试时间间隔有如下关系式测试时间间隔(秒)= 1/60(NPLC
为了说明实现这一测试方案所达到的结果,我们用四个源表的测试系统对一个48×64的OLED显示器进行了正向电流、电阻和反向偏置的测量。测量速度被设定为1个NPLC(即,积分时间 = 16.7毫秒),并有1秒的信号源延迟
许多电测试系统和测试仪器能够测量或输出危险的电压和功率强度。而且,在某个环节出错(比如,一个编程错误或一次仪器故障)的情况下,也可以输出危险电平,即使系统仍指示无危险存在。这些高压和高功率的存在意味着必
磁场除了热噪声,电路引线在磁场中的运动也会产生寄生电压。即使地球相对很弱的磁场也会在摇摆的引线中产生纳伏级的噪声,因此引线应尽量短并严格固定好。物理学基本原理认为磁场在电路中感应的电压大小与电路引线包
进行精密、准确的电压测量技术已为人们所熟知。但是当测量分辨率必须扩展到1微伏以下时,很多方法就达不到要求了,例如工业环境下温度、压力、力等物理参数的测量就属于这种情况。例如,工业温度的测量通常需要0.1℃
电阻网络生产测试的目的是在生产的各个阶段尽可能快速地检验这些器件的性能,以及它们最终的封装形式。这些测试必须可靠以确保所有装箱的产品都满足制造规范。通常情况下,我们需要对网络中的每个单元进行电阻测量。
封装技术的进步推动了三维(3D)集成系统的发展。3D集成系统可能对基于标准封装集成技术系统的性能、电源、功能密度和外形尺寸带来显著改善。虽然这些高度集成系统的设计和测试要求仍在不断变化,但很显然先进的测试自
双端电阻网络双端电阻网络器件的特性是每个电阻器都是由其他电阻器环路桥接的,形成了并行电流通路。从物理上断开环路是不可能的。利用一般的测试方法,大部分测试电流将会流过并行通路,产生的电阻读数要低于待测电