超声波测厚仪显示值过大或过小原因分析 在实际检测工作中,经常碰到测厚仪示值与设计值(或预期值)相比,明显偏大或偏小,原因分析如下:(1、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的,因
一、RCC_AHBPeriphClockCmd函数其中RCC_AHBPeriph的取值范围:二、RCC_APB2PeriphClockCmd函数其中RCC_APB2Periph的取值范围:GPIOx[0-15]、高级定时器TIM1,TIM8,高速SPI1,高速异步通信USART1,ADC1,ADC2
压力校验仪是一种常用的压力仪表,不仅解决了标准压力的校验而且更好的满足了现场综合的测试需要,被广泛的应用于多个行业当中。我们在使用压力校验仪的时候对于它的优点以及使用要点都有了解过吗?这对于用户的使用
如何将系统时钟设置到外部高频晶体振荡器,430的MCLK默认的是DCO的,如何安全的从DCO切换到外部晶体振荡器,这是一个很重要的步骤,因为经过此步骤,可以极大地提高430的处理能力,DCO在内部,可以为cpu提供强劲稳定
计量器具应用于生产与销售的各个环节。其测量结果的好坏直接反映生产、能耗情况,在销售环节影响企业生产的效益。因此通过计量器具测量误差原因分析,尽量减少测量误差。一、计量器具本身存在误差我厂的质量流量计精
第一步,先聊聊单片机 LED 点亮: 单片机可操作单个位:sbit led1 = P1 ^ 2; 通过控制 变量 led1 来控制灯 的 亮 与 灭;#include sbit led1 = P1 ^ 2;void delay(unsigned int xx)//延时{ int i = 0;
使用较低且适当的采样率对高频信号进行采样对功率分析仪有以下意义:1.利用等效采样原理对高频信号进行精细采样,使采样后的离散信号有更好的相位分辨率;2.不必采用高采样率的ADC(ADC高采样率意味着转换位数的降低)。
The XBYTE macro accesses individual bytes in the external data memory of the 8051. You may use this macro in your programs as follows:#include /* Include Macro Definitions */...rval = XBYTE [0x0002];
在日常工作运用中,针对不同的测量值,不同的误差标定方法对结果的实际测量精度是不同的。选择的时候,要针对测量情况和使用仪器仪表在测量点的允许误差具体分析,并不一定低等级仪器就有最好的测量效果。要根据具体
在MDK环境下,终于将3.90版本的UCGUI移植到STM32下了,在网上看到的都是例程代码,很少看到有关于在STM32下移植UCGUI的教程方法,为了方便大家,特写此移植方法,大家可以借鉴(有错误之处,望大家指点出来共同讨论!