测试

c8051f005单片机PWM测试程序

c8051f005单片机PWM测试程序//PWM输出脚P0.3//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-------------------------------------------------------

PCB电路板上为什么需要有测试点？

对学电子的人来说，在PCB电路板上设置测试点(test point)是在自然不过的事了，可是对学机械的人来说，测试点是什么？ 基本上设置测试点的目的是为了测试电路板上的零组件有没有符合规格以及焊性，比如说想检查一颗电

c8051f005键盘测试程序

c8051f005键盘测试程序//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//---------------------------------------------------------------------------

c8051f005_DA测试程序

//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-----------------------------------------------------------------------------#include//SFRdeclar

计数测试数码管显示程序

计数测试数码管显示程序#include//6.000MHz#defineucharunsignedchar#defineuintunsignedint#defineL0#defineR1ucharSEG7[10]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f};/*0~9的数码管段码

提高嵌入式软件质量

如果测试无法证明不存在严重的运行错误，那么嵌入式软件开发团队如何才能确定其软件没有这些错误呢？基于数学证明的代码验证是值得一试的解决方案。在软件验证方面，可扩展的高性能数学技术在实际应用方面的最新发展十分有用，可实现对软件中不存在运行时错误进行证明。

单片机进行脉宽调制(PWM) 直流电机调速测试程序

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电路板设计为什么要设置这些测试点？

对学电子的人来说，在电路板上设置测试点（test point）是在自然不过的事了，可是对学机械的人来说，测试点是什么？ 基本上设置测试点的目的是为了测试电路板上的零组件有没有符合规格以及焊性，比如说想检查一颗电

PCB可测试性设计技术要概述

随着技术进入超大规模集成（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性及多层印制板、表面封装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多模块（MCM）技术在电路系统中的运用，都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失，电路

FPGA和ASIC之间界限正在模糊，FPGA为未来的ASIC提供设计架构

与以前的自我相比，现在的FPGA不再仅仅是查找表(LUT)和寄存器的集合，而是已经远远超出了现在的体系结构的探索，为未来的ASIC提供设计架构。该系列器件现在包括从基本的可编

经典案例分享：弱信号的测试

　 本次设计硬件部分主要由信号放大、交直流转换、AD转换、量程转换、用于数据采集和数据传输的单片机、接口芯片、串口以及PC机等部分构成。首先，在PC机生成一个用于控制量程转换和数据显示的窗口；先

深度了解云计算数据中心内部架构

对于云计算而言，应着重从高端服务器、高密度低成本服务器、海量存储设备和高性能计算设备等基础设施领域提高云计算数据中心的数据处理能力。云计算要求基础设施具有良好的

测试和测量系统选择须知

　　测试和测量设备跨越很宽的范围。对简单应用来说，比较容易选择合适的结构来满足需要和预算。应用的复杂性增加时，结构的选择以及相关的费用也变得复杂了，就会做出错误的选择，会更昂贵，正确的选择

光功率计自动测试系统设计

摘 要： 介绍了一套最新研制的光功率计自动测试系统，该系统充分利用了计算机的现有资源，具有投资省、自动化程度高等特点。对于利用计算机进行数据采样、实时通信、自动控制等应用具有一定的参考价值。关键词： 光开

ADI自动测试设备解决方案

Analog Devices provides our customers with a complete portfolio of ATE signal Chain solutions to meet todays demanding SOC, DRAM and Flash Memory tester applications while developing the technologies

SOC芯片中整合RF前端有什么好处？能给生产测试带来什么？

本文的主旨是启发读者去考虑电子芯片集成度提高对终测或生产测试的影响。特别的，射频(RF)芯片测试方法的主要转移变得越来越可行。一些关于生产测试的关键项目将在这里进行

基于FPGA系统易测试性的研究

引 言现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛，因此FPGA易测试性就变得很重要。要获得的FPGA内部信号十分有限、FPGA封装和印刷电路板(PCB)电气噪声，这一切使得设计调试和

电磁继电器参数的测试

如何简单的测试开关电源

在电路设计当中，开关电源掌控着开关管的开通和关断的时间比率，在电路中发挥着最基础但是又不可取代的作用。正因为非常重要，所以开关电源的测试也变得异常重要。本篇文章

电源噪声的测试

探头的GND和信号两个探测点的距离过大图一：示波器DC的量化误差示波器存在量化误差，实时示波器的ADC为8位，把模拟信号转化为2的8次方（即256个）量化的级别，当显示的波形只占屏幕很小一部分时，则增大