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老化测试有助于面对 SiC MOSFET 的不稳定性
在本文中，我们将重点介绍老化测试如何帮助评估碳化硅 MOSFET 在晶圆级的栅极阈值电压的稳定性。众所周知，关于 SiC 功率器件可靠性的一个主要问题是器件工作期间阈值电压 (V TH ) 的变化。
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老化测试提高了 SiC 和 GaN 的可靠性
新型宽带隙半导体(如碳化硅和氮化镓)在市场上的扩散对传统的老化和测试系统提出了挑战，因为裸片尺寸越来越小，并且组件可以承受更高的电压和温度。
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高精度低成本：一款LED老化测试方案
2013年9月23日，由中国互联网协会、中国信息安全测评中心、国家计算机网络应急技术处理协调中心（CNCERT/CC）指导，360公司主办的2013中国互联网安全大会（IS
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如何进行CAN通信设备的批量老化测试
老化测试是产品生产中必不可少的环节，对于CAN通信设备如何进行批量高效的老化测试呢?本文将从成本及方案优化两方面简述测试方法。
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背板环境老化测试分析之系列—黄变篇
目前常规晶体硅光伏组件采取“钢化玻璃/EVA/电池片/EVA/背板”这种夹心结构封装，背板是组件中直接与外界环境接触的封装材料，其性能的优劣直接影响到整个组件的寿命。 市场上常见的背板类型
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基于LabVIEW的三极管寿命测试系统
随着航空，航天，能源工业等领域对电子产品质量的要求日益提高，电子产品的可靠性问题受到越来越广泛的重视。电子产品在使用过程中会遇到不同环境条件，在热胀冷缩的应力作用下，热匹配性能力差的电子元器件就容易失
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世界杯决赛场地 300平米LED中国造
4月23日，长沙市开福区青竹湖路的新亚胜产业园内，首批三块100平方米左右的LED显示屏正在做72小时无间断的老化测试，测试完成后，这批由湖南制造的高清LED显示屏将于明日打包运往巴西。据悉，这款有由湘企新
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中祥创新LED照明大力开拓专业应用市场
LED照明的发展速度加快，也为LED照明市场的发展带来了机遇。与此同时，中祥创新专注于智能化LED灯研发生产，不仅满足了消费者的节能和环保需求，给整个行业的发展带来了巨大的LED照明应用市场。 中祥创新LED照明产品
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中祥四通齐心协力大生产 LED显示屏品质享誉四方
近期，中祥创新、安徽工厂都一片忙碌的景象，中祥创新迎来了海外市场客流高峰、每天应接不暇，一天接待十余批客户，来自全球各地各个国家。同时，在这个金秋的十月丰收的秋季，中祥创新、安徽四通生产部员工
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LED电源老化测试用的缓启动恒流电子负载
设计实用于LED电源的，具有缓启动功能的恒流电子负载，利用负载接入端子V+.V-输入电压，经过稳压输出电路稳压后用于控制经典的模拟恒流负载电路，配合上简单的由RC 延时网络构成的上电延时启动电路.能使负载电流从0 mA缓慢上升至额定电流，再配合由双三极管及电阻电容构成的掉电快速放电电路，保证了下次启动时的延时效果.该设计的具有缓启动功能的恒流电子负载，无需外部供电，直接取电于负载接入电压，无需软件延时和其他硬件延时，实现无源软缓启动，成本低，可以串联和并联使用.在LED电源的老化测试中，替代电阻负载，模拟
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可同时监控上百个通道的LED老化测试方案
LED发光的原理： 中国LED产业起步于20世纪70年代。经过30多年的发展，中国LED产业已初步形成了包括LED外延片的生产、LED芯片的制备、LED芯片的封装以及LED成品应用在内的较为完整的产业链。 LED照明的LED是由Ⅲ
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LED照明产品的老化测试方案
摘要：本文详细介绍了一种LED照明产品长时间通电老化试验的方案。主要说明了如何结合系统中的硬件产品，和主要的监控软件，实现最大程度的发挥电源在老化系统中的作用，提高多个LED 产品老化测试的同时性和自动化性，
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ITECH电源和老化测试软件在LED照明产品的老化测试的应用
1 引言LED 照明产品长时间通电老化试验是LED 照明产品的一个重要试验，主要用于LED 照明产品的可靠性的验证。选用产品 ITECH 台湾艾德克斯电子的 IT6710(60V/3A/100W),IT6720 (60V/5A/100W) 或者是IT6721(60V/8A/180
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LED加速寿命和可靠性试验
1. 概述随着近年来LED光效的不断提升，LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视，它是LED产品最重要的性能之一。寿命是可靠性的终极表现，然而LED的理论寿命很长，像传统光源采用2h45min开、15min关的循环测试到寿命终
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NI TestStand处理用于航空电子的老化测试模型
Author(s): Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business GroupIndustry: Aerospace/AvionicsProducts: NI TestStand
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泛华恒兴推出最新电子元器件老化测试系统
21ic讯 近日，北京泛华恒兴科技有限公司推出了电子元器件老化测试系统，该系统主要用于对探井设备电路板中多种电子元器件的入厂筛选与检验，其中包括对电阻、电容、电感等常用元器件的检测。作为专业的电子元器件老化
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Multitest为新一代老化测试带来可靠创新
Multitest公司，近日宣布宣布其老化产品团队最近成功为一家跨国IDM提供支持，显著提高了其老化能力——达三分之一以上，同时大幅度降低了客户老化板检测所需的成本和工作。 Multitest通过对相关应用及其对老化流
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基于CAN总线的老化测试系统的设计
为保证安全性与可靠性，车用设备电路板必须经过长时间老化测试。由于需要老化电路板数量较大，设计了一个基于 CAN总线的老化测试系统。介绍了系统各个模块的功能与设计，详细介绍通信模块处理串口通信的实现方法及通信模块与测试模块的 CAN通信机制。
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仅用100W功率就能对1kw设备进行老化测试的传输线
一台13.56MHz ISM（工业、科学和医疗）频段射频测量设备要求进行50小时1kw老化测试。被测设备需要同时加上等效于1kw的射频电压和射频电流，而手里唯一可用的射频信号源是一台100W射频发生器，体现节省能源的重要性。
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