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基于JTAG的互连测试技术
一、引言随着微电子技术进入超大规模集成电路（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块 （MCM）技术在电路系统中的运用，使得电路节点的物理可访问性正逐
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用JTAG边界扫描测试电路板、BGA和互连
当第一批电路板样板放在硬件工程师桌面的时候，在测试时他会感到非常困扰。工程师耗费几个星期的时间设计电路图和布板，现在电路板做出来了，上面也安装好了元器件并拿在手上，现在必须确定它能否工作。工程师插上板
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对PLD进行边界扫描（JTAG）故障诊断
IEEE 1149.1标准规定的边界扫描技术是针对复杂数字电路而制定的。标准中的自治测试技术现已成为数字系统可测性设计的主流。在利用边界扫描技术对芯片印刷电路板进行测试时，单芯片与多芯片电路板虽有相同点，但也有不
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利用单片机实现CPLD的在系统编程
一、问题的提出嵌入式系统而灵活性的要求。一方面，应用环境会对嵌入式系统不断提出新的要求，需要更改最初的设计；另一方面指生产多个品种时希望尽量能在单一的硬件平台上实现。为了最大限度地满足灵活性的需要，嵌
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基于JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案设计
1、引言 4、DSP/BIOS 应用及实时性分析 4.1 DSP/ BIOS的分析特性： 程序跟踪：显示写入目标日志的事件并在程序执行过程忠反映动态控制流程。 性能监控：跟踪、统计目标板资源的使用情况。 文件流：将
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基于JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案设计
基于JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案设计
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基于JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案设计
基于JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案设计
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基于JTAG的ARM芯片系统调试
基于JTAG的ARM芯片系统调试
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JTAG51帮助文件在keil下的C51下的HLP目录下，名字为jet51_keil
光传感器，也称为光探测器，可以生长在各种不同的衬底上：锗、砷化镓铟、磷化镓以及硅。所有这些光传感器都具有可变的光谱和时间响应及应用功能，但是这类非硅基传感器的应用空间相对较窄，而硅基传感器则广泛适用于
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JTAG51帮助文件在keil下的C51下的HLP目录下，名字为jet51_keil
光传感器，也称为光探测器，可以生长在各种不同的衬底上：锗、砷化镓铟、磷化镓以及硅。所有这些光传感器都具有可变的光谱和时间响应及应用功能，但是这类非硅基传感器的应用空间相对较窄，而硅基传感器则广泛适用于
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基于ARM开发的JTAG仿真器的调试设计
基于ARM开发的JTAG仿真器的调试设计
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FPGA设计的新功能保证视频技术
FPGA设计的新功能保证视频技术
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JTAG仿真接口电路设计
连接测试组(JTAG，Joint Test Action Group)接口用于连接最小系统板和仿真器，实现仿真器对DSP的访问，JTAG接口的连接需要和仿真器上的接口一致。不论什么型号的仿真器，其JTAG接口都满足IEEE 1149.1的标准。满足I
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JTAG仿真接口电路设计
JTAG仿真接口电路设计
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基于FPGA的动态可重构系统设计与实现
0 引 言 由于数字逻辑系统功能复杂化的需求，单片系统的芯片正朝着超大规模、高密度的方向发展。对于一个大规模的数字系统而言，系统规模是基于各种逻辑功能模块的组合。但是，无论是时序逻辑系统，还是组合
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基于FPGA的动态可重构系统设计与实现
0 引 言 由于数字逻辑系统功能复杂化的需求，单片系统的芯片正朝着超大规模、高密度的方向发展。对于一个大规模的数字系统而言，系统规模是基于各种逻辑功能模块的组合。但是，无论是时序逻辑系统，还是组合
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基于SoPC的通用在线调试器设计
基于SoPC的通用在线调试器设计
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基于SoPC的通用在线调试器设计
基于SoPC的通用在线调试器设计
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采用JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案
采用JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案
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采用JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案
采用JTAG仿真器的DSP中断检测处理技术方案
