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一点设计电容小心得，希望大家多多指点
电容的失效形式 大电流冲击失效、高电压、热击穿、高温、高潮、噪声干扰
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IC测试有问有答
IDD (ICC)一般为一个器件的特征值，分布范围不会很大，100uA-10mA的变化肯定是异常的
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我看蓝领程序员
相信在不久的将来就会有大批的蓝领程序员出现，带领我们走向软件产业规模化的春天。
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技术论坛上是否留市场广告？我的看法：(希望大家给意见)
恰好本人也时有在坛子上发些卖瓜贴，于是想说说个人的看法
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转载：关于可能遭到痛殴的贴子
不做作业的学生，拿着作业题让人做-〉此类人当杀
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“关于社会浮躁之讨论”疑惑中
我记得送我的徒弟走得时候，说过的那段话“这个时代要做出伟大的成就，我们这代年轻人要拥有更为优秀的人格修养成为成功的灵魂，但是无论如何，每一步前进的路都比同龄的其他的人类来得更加的艰辛和更值得回味”
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重评中国IT业技术路线 （转）振奋
不难想象，这会引起一系列的连锁反映，比如，在核心技术实力基础上再谈标准和规则问题。
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模拟数字之我见
一旦实现软件无线电，模电的工程师就可以下岗了。
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反击老板的几点要领
要讲究批评的语调
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ROM和RAM测试总结
为什么要测试ROM和RAM，怎么测试呢？普遍的看法是
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功率半导体器件鸟瞰
离开全貌还有不少距离。希望以后还能进一步补充。
