在PCB制造过程中,孔无铜现象作为致命性缺陷之一,直接导致电气连接失效和产品报废。该问题涉及钻孔、化学处理、电镀等全流程,其成因复杂且相互交织。本文将从工艺机理、材料特性及设备控制三个维度,系统解析孔无铜的根源并提出解决方案。
在5G通信、汽车电子等高可靠性领域,PCB化学镍金(ENIG)工艺中的黑盘(Black Pad)与富磷层问题已成为制约产品良率的核心挑战。这两种缺陷虽表现形式不同,但均源于镍磷合金层的微观结构异常,最终导致焊点脆性断裂。本文从工艺机理、失效模式及改善方案三方面,揭示其本质并提出系统性解决方案。
在电子制造领域,PCB孔铜断裂是导致电路失效的典型问题,其隐蔽性与破坏性常引发批量性质量事故。本文结合实际案例与失效分析数据,系统梳理孔铜断裂的五大核心原因,为行业提供可落地的解决方案。
随着5G通信、人工智能和汽车电子等领域的快速发展,高密度互连(HDI)技术已成为PCB制造的核心方向。HDI板通过激光盲孔、微细线路和多层堆叠设计,在有限空间内实现更高密度的电路布局,但其组装封装与镀覆孔(PTH)技术的复杂性也带来了新的失效风险。本文从技术原理、失效模式及优化方案三方面,解析HDI板可靠性提升的关键路径。
在电子电路设计中,确保电源的稳定和安全至关重要。LTC4365 作为一款出色的过压(OV)、欠压(UV)以及反向极性故障保护控制器,在众多领域得到了广泛应用。其能够为电源输入电压可能出现过高、过低甚至负值的应用场景提供可靠保护,通过控制外部 N 沟道 MOSFET 的栅极电压,使输出处于安全工作范围。在 LTC4365 的应用中,过欠压设置电阻的选择和设定对其保护性能起着关键作用,而一个值得深入探讨的问题是:LTC4365 的过欠压设置电阻是否可以通过输出电压来改变?
在电子制造领域,喷锡板(HASL,Hot Air Solder Levelling)因成本低廉、工艺成熟,仍占据中低端PCB市场30%以上的份额。然而,随着无铅化趋势推进,HASL工艺的拒焊(Non-Wetting)与退润湿(Dewetting)问题愈发凸显,成为制约SMT良率的关键瓶颈。本文结合典型失效案例,从工艺控制、材料特性及环境因素三方面,系统解析HASL拒焊的深层机理。
在科技飞速发展的当下,医疗领域正经历着一场深刻变革,远程医疗凭借其独特优势逐渐崭露头角。而 5G 技术的横空出世,更是为远程医疗注入了强大动力,使其驶入发展的快车道,应用场景得到前所未有的拓宽。
在PCB制造过程中,阻焊油墨作为关键功能层,其质量直接影响产品可靠性。然而,油墨气泡、脱落、显影不净等异常问题长期困扰行业,尤其在5G通信、汽车电子等高可靠性领域,阻焊缺陷导致的失效占比高达15%-20%。本文结合典型失效案例,系统解析阻焊油墨异常的根源机理,并提出基于工艺优化的改善方案。
在电子制造领域,BGA(球栅阵列)封装因其高密度引脚与复杂工艺特性,成为高端电子产品的核心组件。然而,其焊点失效问题长期困扰着行业,尤其是界面失效、钎料疲劳及机械应力断裂等模式,直接威胁产品可靠性。金相切片分析技术通过微观结构观测,为破解BGA焊点失效机理提供了关键手段。
在表面贴装技术(SMT)制造领域,检验标准是确保产品质量的基石。其中,自动光学检测(AOI)技术与IPC J-STD-001GA标准的协同应用,构成了现代电子组装质量管控的核心框架。本文将聚焦AOI检测规范与IPC J-STD-001GA标准的技术要点,揭示其在高密度封装时代的实践价值。