多年来,Xilinx公司的可编程逻辑技术始终扮演着ASIC替代解决方案的角色。过去十多年来,每次当ASIC技术实现摩尔定律的预期,Xilinx FPGA和CPLD都迅速填补了由此而留下的间隙。最近,有些ASIC制造商推出了称为结构化A
1、MSP430F5438A有三个定时器: TA0、TA1 和 TB0。2、CCR0单独用一个中断向量,且优先级最高。其他CCR1--CCR5用公用一个中断向量。33、中断向量:#defineTIMER1_A1_VECTOR(48*2u)/*0xFFE0Timer1_A3CCR1
1.使用兆欧表测量绝缘电阻时,应该注意哪些事项? 测量设备的绝缘电阻时,必须先切断电源。对具有较大电容的设备(如电容器、变压器、电机及电缆线路)必须先进行放电;⑵、兆欧表应放在水平位置,在未
保密的重要性 对电子系统而言,FPGA的保密性极其重要。图1列出了两个系统设计的示意图,左边为1995年所作的系统设计,在该设计中,以ASIC芯片为核心,FPGA仅起到胶合逻辑的作用;在右边2005年进行的同类型系统设计中
430单片机,一般具有内部的信息区,以便保存一些需要EEPROM才可保存的数据。在论坛没有收到相关信息,就借用网上的,抛砖引玉,如果有什么问题,多多指正,一起掌握!MSP430 FLASH型单片机的FLASH存储器
针对摇测10kV变压器的绝缘值,使用ZC系列携带型兆欧表,有的存在三个误区:?? 误区一: 兆欧表的额定电压与被测电气设备的电压不相适应。即测试变压器高压和低压线圈应使用不同的兆欧表;对0.4kV侧线圈
前言 伴随着工艺技术水平的提高,当前ASIC设计规模和设计复杂度也不断的提高。合理的选择验证工具在ASIC设计过程中起了关键作用。下面就结合实际的项目开发,对比验证工具的特点,帮助大家更好的认识验证工具。 S
1 Msp430Flash型单片机内部Flash存储器介绍MSP430的Flash存储器是可位、字节、字寻址和编程的存储器。该模块由一个集成控制器来控制编程和擦除的操作。控制器包括三个寄存器,一个时序发生器及一个提供
测量大值电阻 31/2位和41/2位数字万用表电阻档的最大量程一般是20MΩ。对于31/2位数字万用表而言,使用不同的电阻量程 也只能测量0.1Ω~19.99MΩ范围内的电阻;而对于41/2位数
1 引 言 随着消费类电子产品包括PDA,MP3、智能手机等手持设备的市场需求逐步扩大,产品间的竞争也愈发激烈,降低产品的设计成本,提升产品的市场竞争力成为嵌入式系统开发者所面临的重大挑战。NAND FLASH和NORFLASH
关于MSP430-Flash超过64K的读写操作方法#include "msp430xG46x.h" void WriteFlashErrorNum(void); //---------------------------------------------------------------------- //功能:从flash中读出
1、用万用表电阻档检查电解电容器的好坏 电解电容器的两根引线有正、负之分,在检查它的好坏时, 对耐压较低的电解电容器(6V或 l0V),电阻档应放在R×100或 R×1K档,把红表笔
0 引 言传统的正交下变频是通过对模拟I、Q输出直接采样数字化来实现的,由于I、Q两路模拟乘法器、低通模拟器本身的不一致性、不稳定性,使I、Q通道很难达到一致,并且零漂比较大,长期稳定性不好,不能满足高性能电子
FLASH型的MSP430单片机都带有信息存储器SegmengA及SegmentB,SegmengA及SegmentB各有128字,SegmentB的地址是:0x01000h到0x107F,SegmentA的地址是:0x01080h到0x010FFh。程序被写入MSP430之后,程序通
数字万用表除了可以进行电压、电流、电阻、电容和晶体管等基本参数的测量外,还可以通过变通使用,使其功能得到进一步拓展,达到一表多用的目的。现给出用数字万用表判断电线电缆断点的方法。当电缆或电