一、原理 四象限光电探测器实际由四个光电探测器构成,每个探测器一个象限,目标光信号经光学系统后在四象限光电探测器上成像,如图1。一般将四象限光电探测器置于光学系统焦平面上或稍离开焦平面。当目标成像不在
一、引言 近些年来,随着人类对于海洋开发力度的增加,关于海洋方面的研究越来越广泛深入。相应地,海洋中各种环境物理场也成为了研究关注的焦点。因为对于海洋环境物理场的了解,意味着人们可以更加熟悉海洋,
在画原理图时希望把公司的logo和一些图片信息一起放入标题模板,这样只要调用标题模板就可以实现所有原理图标题模板的一致性,做这样的模板库有三个步骤: (1)在FileNewLibrary 新建一个如图1的库或安装目录C:Cad
很简单的方法就是修改原始的菜单文件,这样不太保险,下面的方法是通过自定义菜单位置来修改的,不会影响系统原始的菜单文件,随时可以还原。有三个步骤。 修改有风险,新手须谨慎 1,首先到C:CadenceSPB_15.2share
中心议题: 可制造性设计(DFM)流程 可制造性设计(DFM)工具 解决方案: 产品PCB制作 产品零部件组装 产品成品测试 “DFM”-一个由三个字母组成的缩写,其意义依据你在设计及制造
在PCB设计中遇到了元件文字的问题,看下图 是不是相当的乱,从字面上可以看出好多叠加的文字,到底是怎么回事呢?我们先从元件的封装说起,我们使用allegro在制作元件封装时,都是通过File-->New,然后在Dr
反激式变压器开关电源电路参数计算基本上与正激式变压器开关电源电路参数计算一样,主要对储能滤波电感、储能滤波电容,以及开关电源变压器的参数进行计算。1-7-3-1.反激式变压器开关电源储能滤波电容参数的计算前面
集成运算放大电路的一般组成及其单元结构,如恒流源电路、差分放大电路、CC-CE、CC-CB电路和互补输出电路等。运算放大器主要由输入级、中间放大级、输出级和偏置电路等四部分组成,如图1所示。图1 运算放大器
差分放大电路及其共模抑制特性。从对双端输入信号的差模和共模分解出发,提出差分放大电路不但能进行差分放大,而且具有共模抑制能力。 差分放大电路有二个输入端,如图1(a)所示。图1 设两个输入信号的差模值
本文介绍一种由8031单片机组成的触发控制系统,可实现高分辨率的数字触发。在常规控制中,主要是用电子控制装置对可控硅实现触发,这种方法由于受到电子元器件的限制,其分辨率不高,有时还会出现误触发。 在电力拖动
基本特性 交流非隔离式高频开关降压恒流模式 交流85~245V,50~60Hz工作范围 串联充电、并联放电无源功率因数校正 可内置于28毫米灯管里安装 工作环境温度0~75oC 满足IEC61000
LED路灯是LED照明中一个很重要应用。在节能省电的前提下,LED路灯取代传统路灯的趋势越来越明显。市面上,LED路灯电源的设计有很多种。早期的设计比较重视低成本的追求;到近期,共识渐渐形成,高效率及高可靠性才是
本文将探讨如何利用恒流LED驱动器设计出高效率、高稳定性的LED照明系统。 随着高功率LED的问世,LED的使用寿命及电源转换效率成为设计LED照明系统时的主要考虑因素。而为了提供恒流以维持LED色彩与亮度的一致性,恒流
本文详细讨论LED照明系统设计的六个设计步骤:(1)确定照明需求;(2)确定设计目标估计光学;(3)热和电气系统的效率;(4)计算需要的LED数量;(5)对所有的设计可能都予以考虑,从中选择最佳设计;(6)完成最后步骤。虽然
概述:以CMOS探测器为记录介质的数字化射线检测技术,检测精度高、温度适应性好、结构适应性强。CMOS射线扫描探测器探测单元排成线阵列,需要在检测时进行相对扫描运动,逐线采集并拼成完整的透照投影图像。介绍了检测工装设计,完成了探测器的固定、位置调节及实现与检测工件的相对运动。介绍了检测应用中的探测器配置与校准、透照方式选取、运动速度控制、检测参数优化、缺陷定量分析和图像存档管理等。应用结果表明,经过工艺优化,CMOS探测器能够实现大多数产品零部件的射线检测。最后分析了应用中存在的问题及后续研究方向。 Application of Direct Radiography Using CMOS X-ray Linear Array Detector SUN Chao-Ming, LI Qiang, WANG Zeng-Yong, LI Jian-Wen (Institute of Machinery Manufacturing Technology, CAEP, Mian yang 621900, China) Abstract: The digital radiography(DR) using complementary metal oxide silicon(CMOS) X-ray linear array detector as record media had advantages of higher spatial resolution, better temperature adaptability and flexible structure adaptability. During radiographic testing, relative movement of the detector and the work piece was necessary to collect each line of the scanned image, as the detecting units were lined in a row. So the testing equipments were designed to mount the detector, adjust the relative position and move the work piece according to its structure. The testing procedure comprising configuration and calibration of the detector, selection of the applicable scan mode, control of the scan speed, optimizing of the testing parameters, segmentation and quantification of defects and archiving and retrieval of the digital images were described. After optimizing the testing process, it showed that CMOS detector had capability to achieve better images and it could be used in radiographic testing widely. The benefit of using DR and some problems to be solved were talked in the end. Keywords: Digital radiography; CMOS X-ray linear array detector; Process optimization