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首页>技术文库>正文 硬件在环(HIL)测试系统的架构 关键词:硬件在环测试系统,嵌入式控制系统,HIL 时间:2016-08-26 09:34:53来源:中电网 HIL仿真是一种功能强大的测试方法,可以用于更加有
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电子产业正在大力投资开发PRAM、MRAM和RRAM等新型存储器技术。新型存储器技术测试芯片的性能快速提高,但这种存储器要做到能与传统存储器全面抗衡乃至取代传统存储器还需要更多的努力。 通常说来,有了
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对学电子的人来说,在PCB电路板上设置测试点(test point)是在自然不过的事了,可是对学机械的人来说,测试点是什么? 基本上设置测试点的目的是为了测试电路板上的零组件有没有符合规格以及焊性,比如说想检查一颗电