随着FPGA密度的增加,系统设计人员能够开发规模更大、更复杂的设计,从而将密度优势发挥到最大。这些大规模设计基于这样的设计需求——需要在无线通道卡或者线路卡等现有应用中加入新功能,或者通过把两种芯片功能合
//-----------------------------------------------------//// MCU:89C51晶振:12M#include #define uchar unsigned char#define uint unsigned intuint a=0,a1=0,a2=0;uint miusfla,miust,mius=64536
简易测量导线通断方法电路图
赛灵思公司(Xilinx, Inc.)与半导体代工厂商联华电子( UMC)共同宣布,采用联华电子高性能40nm工艺的Virtex-6 FPGA,已经完全通过生产前的验证。这是双方工程团队为进一步提升良率、增强可靠性并缩短生产周期而努力合
//晶振11.0592//灯光在单片机控制之下完成由亮到暗的逐渐变化,感觉像是在呼吸//本例在51hei-5型开发板上实现了一个数码管和一个LED灯一起实现呼吸效果//文件下载:http://www.51hei.com/f/fxd.rar#incl
测量稳压二极管的稳压值VZ的方法如下:1、单表测量法此方法适用于指针式万用表。如果稳压二极倍的稳定电压VZ
来源:现代电子技术 作者:高倩,谢海良 漯河职业技术学院 近年来,随着生活水平的不断改善,个人财富日益增长,人们对安全防盗的要求也逐渐提高。安全可靠、使用方便的电子密码锁成了人们防盗的首选。以Max+PlusⅡ(
#include //52系列单片机头文件#include //C51库自带头文件 #define uchar unsigned char //宏定义无符号字符型为uchar#define uint unsigned int //宏定义无符号整型为uint void delay(uint z); /
使用测厚仪与使用其他仪器一样,既要掌握仪器性能,也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的,所以,被测基体的电磁物理特性
作者:林世霖,华清远见嵌入式学院深圳中心讲师。 类型转换是C语言中常识性的知识点,但不注意又会有让人迷惑的时候,来看一道笔试题: 以下两个程序片段A和B,问那个for循环能运行? A: ----------------------