在高速信号传输与高密度互连需求驱动下,电镀通孔(PTH)作为PCB多层板的核心互连结构,其设计质量直接影响信号完整性、机械强度及产品可靠性。本文基于IPC-2221《印制板设计通用标准》与IPC-7251《通孔设计与焊盘图形标准》,系统解析PTH设计的关键技术规范。
在5G通信、AI计算等高端电子领域,PCB盲孔(Blind Vias)作为实现层间高密度互连的核心结构,其可靠性直接决定产品寿命。然而,某高端服务器PCB在20次回流焊后出现12%的盲孔脱垫率,导致信号传输中断,这一案例揭示了盲孔失效的严重性。本文从材料、工艺、设备三维度深度解析脱垫根源,并提出系统性解决方案。
在电子元器件小型化浪潮中,0201规格(0.6mm×0.3mm)无源元件已成为消费电子、5G通信等领域的核心组件。然而,其尺寸较0402元件缩小75%的特性,对PCB设计、SMT工艺及DFM(面向制造的设计)评估提出了严苛挑战。本文基于行业经典案例,系统解析0201元件导入过程中的DFM关键控制点及工艺优化方案。
在PCB制造过程中,孔无铜现象作为致命性缺陷之一,直接导致电气连接失效和产品报废。该问题涉及钻孔、化学处理、电镀等全流程,其成因复杂且相互交织。本文将从工艺机理、材料特性及设备控制三个维度,系统解析孔无铜的根源并提出解决方案。
在5G通信、汽车电子等高可靠性领域,PCB化学镍金(ENIG)工艺中的黑盘(Black Pad)与富磷层问题已成为制约产品良率的核心挑战。这两种缺陷虽表现形式不同,但均源于镍磷合金层的微观结构异常,最终导致焊点脆性断裂。本文从工艺机理、失效模式及改善方案三方面,揭示其本质并提出系统性解决方案。
在电子制造领域,PCB孔铜断裂是导致电路失效的典型问题,其隐蔽性与破坏性常引发批量性质量事故。本文结合实际案例与失效分析数据,系统梳理孔铜断裂的五大核心原因,为行业提供可落地的解决方案。
随着5G通信、人工智能和汽车电子等领域的快速发展,高密度互连(HDI)技术已成为PCB制造的核心方向。HDI板通过激光盲孔、微细线路和多层堆叠设计,在有限空间内实现更高密度的电路布局,但其组装封装与镀覆孔(PTH)技术的复杂性也带来了新的失效风险。本文从技术原理、失效模式及优化方案三方面,解析HDI板可靠性提升的关键路径。
在电子电路设计中,确保电源的稳定和安全至关重要。LTC4365 作为一款出色的过压(OV)、欠压(UV)以及反向极性故障保护控制器,在众多领域得到了广泛应用。其能够为电源输入电压可能出现过高、过低甚至负值的应用场景提供可靠保护,通过控制外部 N 沟道 MOSFET 的栅极电压,使输出处于安全工作范围。在 LTC4365 的应用中,过欠压设置电阻的选择和设定对其保护性能起着关键作用,而一个值得深入探讨的问题是:LTC4365 的过欠压设置电阻是否可以通过输出电压来改变?
在电子制造领域,喷锡板(HASL,Hot Air Solder Levelling)因成本低廉、工艺成熟,仍占据中低端PCB市场30%以上的份额。然而,随着无铅化趋势推进,HASL工艺的拒焊(Non-Wetting)与退润湿(Dewetting)问题愈发凸显,成为制约SMT良率的关键瓶颈。本文结合典型失效案例,从工艺控制、材料特性及环境因素三方面,系统解析HASL拒焊的深层机理。
在科技飞速发展的当下,医疗领域正经历着一场深刻变革,远程医疗凭借其独特优势逐渐崭露头角。而 5G 技术的横空出世,更是为远程医疗注入了强大动力,使其驶入发展的快车道,应用场景得到前所未有的拓宽。