视频Transformer模型在视频理解、动作识别等任务中展现出强大性能，然而其高计算复杂度和内存消耗限制了实际应用。为解决这一问题，本文从算法和硬件层面出发，探讨视频Transformer模型的稀疏化加速方法，包括算法冗余剪枝和硬件并行架构设计。
本文探讨基于莫顿编码的点云神经网络混合精度量化技术，重点阐述其硬件加速器设计思路及能效提升实践，为点云处理应用提供高效解决方案。
随着摩尔定律逼近物理极限，Chiplet（芯粒）技术通过将大型SoC（系统级芯片）解构为可独立制造的模块化芯粒，成为延续半导体性能提升的关键路径。然而，Chiplet设计面临三大核心挑战：异构芯粒间的互连性能瓶颈、多物理场耦合效应的精确建模，以及复杂架构下的自动化设计效率。比昂芯科技推出的BTD-Chiplet 2.0平台，通过AI驱动的自动化布线算法与多物理场仿真引擎，为Chiplet设计提供了从架构探索到物理实现的完整解决方案。
在电子技术飞速发展的今天，电源 PCB(印刷电路板)设计在各种电子设备中扮演着至关重要的角色。随着信号频率的不断提高和电路复杂度的增加，阻抗匹配问题成为影响电源 PCB 性能的关键因素之一。阻抗不连续现象的出现，会对电源信号的传输产生严重干扰，导致设备性能下降，甚至无法正常工作。因此，深入研究电源 PCB 设计中阻抗不连续的原因、影响及解决方法，具有重要的理论和实际意义。
随着半导体工艺进入7nm及以下先进节点，器件尺寸的持续缩小导致可靠性问题日益凸显。其中，负偏压温度不稳定性（Negative Bias Temperature Instability, BTI）和热载流子注入（Hot Carrier Injection, HCI）效应成为影响芯片长期稳定性的关键因素。传统基于经验模型的可靠性分析方法已难以满足先进工艺的精度需求，而基于物理机制的仿真与参数提取技术成为解决这一难题的核心路径。本文从BTI/HCI效应的物理机制出发，系统探讨先进工艺节点下的可靠性建模方法，并分析其技术挑战与未来方向。
随着芯片设计复杂度的提升，时钟网络功耗已成为系统级功耗的重要组成部分。时钟门控技术通过动态关闭空闲模块的时钟信号，可显著降低动态功耗。然而，传统时钟门控优化方法面临两大挑战：一是如何精准识别时钟信号的可控性，二是如何在RTL级实现高效的逻辑优化。英诺达（Innoveda）推出的ERPE（Efficient RTL Power Engine）工具，通过可达性分析与逻辑引擎的深度融合，为RTL级时序时钟门控优化提供了创新解决方案。
随着芯片设计复杂度的指数级增长，传统基于手工编写的RTL（寄存器传输级）代码开发模式面临效率瓶颈。大语言模型（LLM）凭借其强大的自然语言理解与代码生成能力，为RTL代码自动化生成提供了全新路径。本文从需求分析、架构设计、代码生成到验证优化，系统探讨LLM在RTL设计全流程中的应用，并分析其技术挑战与未来方向。
随着数字集成电路（IC）设计复杂度的指数级增长，传统布局工具在处理超大规模设计时面临计算效率瓶颈。DREAMPlace作为基于深度学习的VLSI布局开源项目，通过引入GPU加速技术，实现了全局布局与详细布局阶段超过30倍的速度提升。本文以DREAMPlace 4.0版本为核心，解析其GPU加速架构设计、性能优化策略及工程实践。
变频器作为调节电动机转速的关键设备，其电流环与速度环的调节对于电机稳定、高效运行至关重要。电流环作为内环，负责快速调节电机电流;速度环作为外环，基于电流环进一步控制电机转速。将深入探讨电流环与速度环的调节方法，分析两者之间的相互作用，并给出具体调节步骤和注意事项，旨在帮助读者更好地理解和应用变频器技术。
在电子电路的世界里，电阻是最基础且不可或缺的元件之一，它如同电路中的 “交通指挥员”，通过阻碍电流的流动，实现对电压、电流的精准调控，保障各类电子设备的正常运行。然而，在实际应用中，电阻会因各种因素出现损坏，进而影响整个电路的性能，甚至导致设备故障。深入了解电子电路中电阻损坏的特点，并掌握有效的判别方法，对于电子工程师、维修人员以及电子爱好者而言，都是一项至关重要的技能。
差分线对由两根平行且紧密耦合的信号线组成，这两根信号线传输的信号幅值相等、相位相反。在信号传输过程中，接收端通过检测两根信号线上的电压差值来恢复原始信号。例如，当一根信号线上的电压为 +V 时，另一根信号线上的电压则为 -V ，接收端通过计算两者的差值(+V - (-V) = 2V)来获取信号信息。这种传输方式使得差分线对能够有效抑制共模干扰，因为共模干扰在两根信号线上产生的影响是相同的，在计算差值时会相互抵消，而差模信号(即需要传输的有用信号)则得以保留。
在各类电子设备中，电源板扮演着为系统提供稳定电力的关键角色，而变压器作为电源板的核心部件之一，其运行状态直接影响着设备的正常工作。当电源板上的变压器在频率变化时发出响声，这一现象往往暗示着设备内部存在某些值得关注的问题。深入探究其中原因，对于保障电子设备稳定运行、提高设备可靠性具有重要意义。
在现代电气和电子测量领域，电流探头作为一种关键的测量工具，能够精确测量电路中的电流信号，为工程师、技术人员提供了至关重要的数据支持。无论是在电力系统监测、电子设备研发与调试，还是在工业自动化控制等众多场景中，电流探头都发挥着不可或缺的作用。然而，要充分发挥电流探头的性能优势，实现准确测量，同时确保其长期稳定运行，正确的使用方法和有效的损坏预防措施至关重要。
在现代电子技术领域，MOS 场效应管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)凭借其独特优势，如高输入阻抗、低噪声、易于集成等，被广泛应用于各类电子产品中，从日常的手机、电脑到复杂的工业控制、通信设备等，都离不开 MOS 场效应管的身影。然而，MOS 场效应管对静电极为敏感，静电击穿问题严重影响其性能和可靠性，甚至导致器件永久性损坏，给电子产品的生产、使用和维护带来诸多困扰。深入探究 MOS 场效应管被静电击穿的原因，对提升电子产品质量、降低生产成本、保障设备稳定运行具有重要现实意义。
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