IGBT是一个发热源,其导通与关断都需要损耗,损耗越大,发热量自然就会越多。而IGBT的开通与关断并不是瞬间完成的,有开通时间与关断时间。
在开关电源中,如果MOS管的关断和导通速度不够快,也会产生附加的功率损耗。
米勒效应是指MOS管在开关过程中,栅极和漏极之间的反向传输电容(Cgd)在开关作用下引起的瞬态变化现象。这种现象会导致驱动电压和漏源电流在一段时间内维持不变,形成一个“米勒平台”,从而增加开关损耗,降低效率。
IGBT的工作原理结合了MOSFET和BJT的优点,通过控制MOSFET的栅电压来控制BJT的导通和截止。IGBT适合用于大电流、高电压的开关任务,具有低导通压降和高功率处理能力。
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MOS管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金属氧化物半导体场效应晶体管)和IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极型晶体管)是电力电子领域中两种重要的功率开关器件,它们在结构、工作原理、性能特点以及应用场合等方面都存在显著的差异。
MOS管的工作原理基于电场效应,即通过控制栅极电压来改变栅源之间的电场,从而控制源极和漏极之间的电流。当栅极电压超过一定阈值时,会在栅极下方的半导体表面形成一层导电沟道,使源极和漏极之间导通。反之,当栅极电压低于阈值时,沟道消失,源极和漏极之间截止。
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反激电源中MOS管出现两次振铃现象的主要原因是由于功率级寄生电容和电感引起的谐振。
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在现代电子电路中,金属氧化物半导体场效应晶体管(MOS管)因其高输入阻抗、低驱动功率和快速开关特性而被广泛应用。然而,在MOS管的开关过程中,尤其是在关断时,常常会出现电压尖峰现象,这不仅影响电路的稳定性,还可能对MOS管造成损害。本文将深入探讨MOS管关断时尖峰电压的产生机理,并提出有效的应对策略。
在电子电路设计中,电源防反接是一个至关重要的问题。错误的电源极性连接可能会导致电路元件损坏,甚至引发整个系统的故障。为了解决这个问题,可以采用多种方法,其中一种高效且可靠的方法是利用MOS管(金属氧化物半导体场效应晶体管)来设计防反接电路。
PWM,也称脉冲宽度调制,它是一种模拟控制方式,根据相应载荷的变化来调制晶体管基极或MOS管栅极的偏置,来实现晶体管或MOS管导通时间的改变,从而实现开关稳压电源输出的改变。