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[导读]在这个大数据时代,很多数据背后都蕴含着无限的价值,芯片EDA验证过程中产生的数据也是一样。 验证设计包括两个部分:输入激励的产生和设计响应的分析。输入激励部分将设计置于特定状态,然后响应分析部分执行验证,即数据比对。testbench的分析部分由监测输出行为和判断设计是否符合其规...

在这个大数据时代,很多数据背后都蕴含着无限的价值,芯片EDA验证过程中产生的数据也是一样。



验证设计包括两个部分:输入激励的产生和设计响应的分析。



输入激励部分将设计置于特定状态,然后响应分析部分执行验证,即数据比对。testbench 的分析部分由监测输出行为判断设计是否符合其规范的部件组成,这些规范包括功能、性能和功耗等等



分析部分从监测DUT的响应开始通过virtual interface观察DUT上的信号级活动。monitor 将信号级活动转换为TLM事务,并使用analysis ports将事务广播到感兴趣的分析组件(观察者模式中的订阅者)这些分析组件获取到事务,然后执行“数据分析”




1个分析组件是Scoreboards,其用来比对DUT的功能是否正确Scoreboards需要完成任务


1、接收与DUT相同的输入激励,产生参考模型预期输出。


2、比对参考模型输出和实际RTL输出(保序比对或者乱序比对)




第2个分析组件是功能覆盖率分析组件,用来回答“我们完成测试了吗?”,根据RTL输出端口确定总体验证进度。



第3个分析组件是指标分析器(分析非功能行为,如性能和功耗),可以在运行时或运行后执行分析。



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