本文为电源设计人员提供了一套行之有效的方法,用于测量开关电源中铝电解电容(Al-Ecaps)的有效纹波电流,该参数是估算电容使用寿命的关键依据。这套方法借助LTspice处理实测数据,能够精确计算有效纹波电流,而纹波电流正是导致电容内部发热、加速性能衰减的核心诱因。这套方法将示波器采集的数据转换为分段线性(PWL)信号源,通过自动快速傅立叶变换(FFT)分析,计入与频率相关的加速因子。借助这套工作流,无需使用昂贵测试设备,也不必依赖过于简化的近似估算,即可完成对电容有效纹波电流及对应内部温升的验证。
对安全功能电路进行首次失效模式、影响与诊断分析(FMEDA)后,结果只有两种。第一种结果是系统完整性等级(SIL)要求得到满足,第二种结果是要求未能满足。对于后者,要在不进行重大架构变更的情况下解决问题,系统集成商可以提高诊断覆盖率、调整运行条件和/或采用额外安全措施。ADI公司安全应用笔记中的信息可以帮助系统集成商实施此类设计改进,从而达到每小时危险失效概率(PFH)/按需危险失效概率(PFDAVG)和安全失效比率(SFF)要求。因此,本系列的第3部分深入探讨系统集成商如何使用功能安全(FS)型器件的安全应用笔记,来提升IC在系统中的功能安全性能。
在完成合理性校验,确认器件功能安全(FS)失效率、失效模式分布(FMD)及引脚失效模式与影响分析(FMEA)的推导假设成立后,系统集成商下一步需将这些数据导入其系统的失效模式、影响与诊断分析(FMEDA)中。ADI的安全事项应用笔记提供了多种计算失效率、裸片FMD及引脚FMEA的方法。系统集成商可根据自身在安全相关系统(SRS)设计或通过FMEDA开展技术安全分析的经验,采用不同方式来运用这些信息。本系列文章第2部分旨在介绍一种结合裸片FMD与引脚FMEA来推导FS器件的失效率分布的方法。
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