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惠瑞捷将提供可在LSI测试设备上运行的故障分析及成品率估算软件
时间：2009-07-04 08:23:00
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[导读]style="padding: 0px 8px; line-height: 24px;">惠瑞捷（Verigy）开发了2款可在LSI测试设备上实时分析故障的软件。将这2款软件与该公司的SoC测试设备“V93000”结合使用，制成了名为“Yield Learning Solution”的产
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惠瑞捷（Verigy）开发了2款可在LSI测试设备上实时分析故障的软件。将这2款软件与该公司的SoC测试设备“V93000”结合使用，制成了名为“Yield Learning Solution”的产品。
目前市场上收集LSI测试设备的处理结果并分析故障的软件有数种。惠瑞捷表示，与现有产品相比，此软件的特点是，在LSI测试设备上（确切地说，在LSI测试设备的计算机部分）运行，可实时故障分析。
Yield Learning Solution包含两款分析软件。一款是“Triage Fault Locator”，通过比较LSI测试设备的输出功率与理论模拟结果，提取发生故障的触发器间的路径，可确定芯片上发生故障的位置。
另一款是“YieldVision”。该软件可分析晶圆上发生故障的芯片位置，还可估算成品率。这两种分析软件由惠瑞捷收购的美国Inovys开发。收购后，为了能使其在V93000上运行，该公司对这两种软件进行了改进，此次对其进行了详细介绍。
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