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Sematech公司的高级研究员AlainDiebold在一份声明中表示,high-k材料的晶向和结晶度会影响器件的电气特性,使用XRD(X射线衍射分析仪)可以帮助研究人员调整工艺,加速high-k电介质的开发。当前XRD是测量SiGe中的应力和成分的先进技术。
上海2022年10月13日 /美通社/ -- 当下,Matter已成为全球物联网行业最热门的话题之一。经过两轮全球性测试活动SVE1及SVE2后,DEKRA德凯西班牙马拉加和中国广州实验室率先成为CSA联盟(Connec...
关键字: TE CE STANDARDS CONNECTIVITY