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阻抗分析仪IM3570（日置）

时间：2010-06-19 17:14:52

关键字：阻抗分析仪 BSP DC KHZ

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[导读]一台仪器就可以实现不同测量条件的高速检测要求即将发售的阻抗分析仪IM3570是测量频率4Hz~5MHz，测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。因为对应不同测量条件都能高速连续测量，所以在需要使用众多仪器

一台仪器就可以实现不同测量条件的高速检测要求

即将发售的阻抗分析仪IM3570是测量频率4Hz~5MHz，测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。因为对应不同测量条件都能高速连续测量，所以在需要使用众多仪器检查的生产线上，仅IM3570一台便可实现。

压电元件的共振特性的测量
通过频率扫频测量共振频率和当时的阻抗值，利用比较功能判别是否合格。另外，通过连续测量的功能，1KHz的 C值测量（LCR电桥）和频率扫频测量都能在这一台仪器上实现。

功能高分子电容等的C-D值和低ESR测量
能够连续测量功能性高分子电容的C-D值以及低ESR（100kHz）
与之前的产品（3522-50,3532-50）相比，低阻抗测量时的绝对精度和反复精度都提升了1位。

电感（线圈、变压器）的DCR和L-Q测量
连续测量L-Q（1kHz，CC1mA）和DCR，能在同一画面上显示数值。
通过扫频测量，能够用图表来显示频率特性和电平特性。

阻抗分析仪IM3570的介绍

推荐用于生产线中的特点和功能
 按照不同测量条件进行连续测量
根据测量对象，1台仪器可连续测量必须的多种测量条件。例如：可进行DCR（直流电阻）和L-Q的连续测量、以及C-D（120Hz）和ESR（100kHz）的连续测量。
 通过高速测量加快检查速度
缩短测量时间、实现最快2ms（1kHz）、1ms（100kHz）。和日置以往产品（代表值5ms）相比，大幅提高了速度，从而有利于增加检查数量。
 和以往产品相比，反复精度提高了1位
和以往产品相比，将低阻抗测量时、高频测量时的反复精度提高了1位。在提高了测量值的可信度的同时，可缩小设置生产线的判断标准的幅度。
 具备接触检查功能
利用4端子测量（仅低阻抗高精度模式时）、2端子测量的接触检查功能，可防止测量电极为接触被测物的情况下测量。
 测量线可延长至4m
利用4端子的结构减小测量线的影响，以测量线长0/1/2/4m来保证精度。便于自动机的接线。
 可在内部发生DC偏压
仅主机可外加并测量最大2.5V的DC偏压。可安心测量钽电容等有极性的电容。
 DC~5MHz可使用的4端子探头
4端子探头L2000（选件）采用有利于特性阻抗50Ω和提高测量精度的4端子构造，是最适合于IM3570的探头。

推荐用于研发的特点和功能
 频率扫频测量和电平扫频测量
可对频率特性（4Hz~5MHz）和电平特性进行扫描和测量。轻松把握特性。
 可广范围的改变测量条件
测量频率4Hz~5MHz（5位分辨率）
测量电平5mVrms~5Vrms（1mVrms分辨率）
 触摸屏设计，轻松操作
延续以往产品中操作简单的触摸屏设计。采用了彩色液晶面板，能够清晰的显示数据，还具备优良的操作性，从而提高作业人员的工作效率。
 U盘
可将测量结果和设定保存至前端面板连接的U盘中。
 PC控制和PC软件
标配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。