新款1KV多路复用器系列,采用仪器级高品质舌簧继电器,具有硬件互锁功能确保安全性,兼具高密度和高性能。
1-Wire网络最初设计用于与单条1-Wire总线上的单个1-Wire主机和多个1-Wire节点进行通信。对于1-Wire网络,理想的拓扑是包含不重要分支线的线性拓扑。然而,包含长分支线的星形拓扑常常是不可避免的,导致确定有效限制的难度加大。解决这些难题的一种方法是利用模拟多路复用器(mux)将星形拓扑分解成许多通道。使用多个通道的优点包括:加快各个1-Wire节点的接入时间,提高网络的鲁棒性,以及在不同通道上混用仅过驱节点和标准/过驱节点。获得这些优点的同时,仍然只使用了一个1-Wire主机。
评估模拟开关、多路复用器、运算放大器和其他 IC 对 IC 测试工程师提出了挑战。典型的测试场景需要对设备的输入施加测试或强制电压,并测量任何产生的泄漏电流和偏移电流,通常为 1 pA 或更低。与缓慢且昂贵的商用自动测试仪相比,这个设计中的低功耗测量电路可以强制提供广泛的测试电压并提供快速稳定,以最大限度地提高设备测试吞吐量。广泛使用表面贴装元件可最大限度地减少其印刷电路板空间要求,并允许在靠近测试夹具的地方封装多个测量电路。
从事快速切换数据采集系统的设计人员经常抱怨模拟输入通道上出现随机尖峰、波动、过度噪声或其他类型的意外电压。这些问题的常见原因是阻抗不匹配。当驱动多路复用系统的源阻抗高于控制系统的输入阻抗时,我们可能会看到一个扫描通道的电压反映在另一个扫描通道上。
Diodes 公司今天宣布推出 PS508 和 PS509 模拟多路复用器,能在工业环境中切换高达 36V 的讯号电压。
在测试测量相关应用中,模拟开关和多路复用器有着非常广泛的应用,例如运放的增益调节、ADC分时采集多路传感器信号等等。虽然它的功能很简单,但是仍然有很多细节,需要大家在使用的过程中注意。所以,在这里为大家介绍一下模拟开关和多路复用器的基础参数。
I3C多路复用器和IO扩展器以较小的占板面积,为基础架构控制平面应用带来更大灵活性及12.5MHz速率
正如拳击手迈克·泰森(Mike Tyson)所说:“要想不被击倒,每个人都需要灵活应对。”当优秀的拳击手看穿对手的出招策略时,他们就会取得胜利。但是,出色的拳击手往往都乐于先吃一拳,然后根据局势随机应变,直到找到制胜法宝。
一位任职于领先的可编程逻辑控制器(PLC)制造商的年轻工程师满怀热情,正在设计一个可接受来自高阻抗传感器输入的多通道24位模拟输入模块。
实现互联世界的创新RF解决方案提供商Qorvo, Inc.近日宣布,推出了两款新型多路复用器---QM25002和QM25008,可满足4G LTE智能手机对载波聚合(CA)技术的严格要求。
21ic讯 移动设备、基础设施与航空航天、国防应用中 RF 解决方案的领先供应商 Qorvo, Inc.今日宣布,公司近期推出的多路复用器解决方案收到了首批生产订单。Qorvo 高度集成的
简介高通道密度数据采集系统用于医疗成像、工业过程控制、自动测试设备和40G/100G光通信系统可将众多传感器的信号多路复用至少量ADC,随后依序转换每一通道。 多路复用可让每个系统使用更少的ADC,大幅降低功耗、尺
简介高通道密度数据采集系统用于医疗成像、工业过程控制、自动测试设备和40G/100G光通信系统可将众多传感器的信号多路复用至少量ADC,随后依序转换每一通道。 多路复用可让每个系统使用更少的ADC,大幅降低功耗、尺
LTC4312 是一款可热插拔型两通道、二线式总线多路复用器,允许将一根上行总线连接至下行总线或通道的任意组合。一个单独的使能引脚负责控制每个连接。LTC4312 提供了双向
【导读】德州仪器推出业界最高带宽的多路复用器产品系列 日前,德州仪器 (TI) 宣布推出三款高速视频多路复用器 —— OPA875、OPA3875 与OPA4872,这些器件结合了高带宽、高压摆率、快速开关时间以及低开关干扰
几种特殊的模拟开关:1、高频T型开关T 型开关适用于视频及其它频率高于10MHz的应用,如图4 所示,它由两个模拟开关(S1、S3)串联组成,另一开关S2 接在地和S1、S3的交点之间,这种结构的开关其关断隔离高于单个开关,
21ic讯 Analog Devices, Inc.最近推出ADG5206和ADG5207两款多路复用器,这两款器件能够在工作电压高达±22 V的高压工业应用中确保无闩锁现象。闩锁是指一种在关闭电源之前会持续存在的不良高电流状态,它可能导
索尼将于2012年9月17日开始销售最多可将四幅医疗影像合成一个画面,并能够经由网络发送合成影像的“影像多路复用器VMI-40MD”,该产品主要用于手术室内影像的实时共享以及远程医疗支援等用途,预计市场价格为110万日
随着SoC设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展,高质量的存储器测试策略显得尤为重要。存储器内置自测试(BIST)技术以合理的面积开销来对单个嵌入式存储器进行彻底的测试,可提高DPM、产品质量及良品率,因而正
1 引言在以单片机为核心的测控系统中.微控制器往往需要两个或两个以上的串行口与其他主机或外设进行通讯,如何使系统具备多个串行接口,是一个具有普遍性的问题。尤其在航空航天领域,由于GPS、大气数据系统、