Pickering 扩展功能测试与硬件在环(HIL)应用的模拟输出产品线

2026年6月——英国滨海克拉克顿—— Pickering Interfaces 作为电子测试与验证领域模块化信号开关与仿真解决方案的主要供应商，宣布推出三款全新 PXI/PXIe 模拟输出模块，进一步扩展在功能测试与硬件在环(HIL)应用中的信号源与传感器仿真产品线。

新模块涵盖多通道波形发生、精密数模转换(DAC)输出以及高密度热电偶仿真，工程师可通过紧凑型开放平台测试系统，以真实的模拟信号、传感器及波形条件对嵌入式控制器进行激励。模块采用单槽 PXI/PXIe 高通道密度设计，具备广泛的机箱兼容性及全面的驱动支持，帮助工程师构建高效的自动化测试系统，同时减少机架空间占用、降低系统复杂度并规避长期淘汰风险。

Pickering 仿真产品经理 Stephen Jenkins 表示："依托 Pickering 在模块化信号开关与传感器仿真领域的行业领先地位，我们不断扩展的 PXI/PXIe 模拟输出仪器模块产品线覆盖了广泛的电子测试应用——从多通道波形与函数发生，到精密 DAC 输出及高密度热电偶仿真。无论是构建生产线功能测试仪还是 HIL 测试系统，Pickering 的仪器方案均能提供高通道密度、可靠精度及长期稳定支持。"

41-770 PXI 和 43-770 PXIe DAC 模块在单个 3U PXI/PXIe 槽位中提供多达四个全隔离模拟输出通道。每个通道均可在多组电压与电流范围内独立编程，电压输出最高达 ±40 V，电流输出最高达 ±20 mA。模块还可仿真开路状态，帮助工程师复现实际故障模式，如线路故障或传感器失效，以进行故障注入测试。硬件互锁功能为被测设备及整个测试系统提供额外保护。

41-625 PXI 和 43-625 PXIe 多通道波形发生器 在单个 3U PXI/PXIe 槽位中提供最多 32 个独立输出通道。模块支持从直流至 300 kHz 的波形生成，适用于模拟真实加速度计及其他多通道激励条件下的信号。每个通道可将波形存储于独立内存块中，支持正弦波、标准波形或用户自定义任意波形，并可通过软件控制直接数字合成(DDS)实现瞬时频率调节。触发功能允许其他仪器的事件启动波形生成或频率扫描。

PXI 41-761A 模拟输出/热电偶仿真模块是专为仿真热电偶传感器输出而设计的专用方案，具备微伏级精确分辨率及内置故障注入功能。其提供独立隔离的双线低压输出，覆盖最常见热电偶类型的输出范围，支持多种冷端配置，并能正确处理共模电压，实现真正的传感器级仿真。单槽最多 32 个全隔离通道，无需外部开关或系统扩展——在单个 PXI 槽位中实现了业界最高的热电偶仿真密度。

Jenkins 补充道："这些新型模拟输出模块提供真正的信号仿真，而非近似模拟。它们是专为测试而设计的，并非改造自通用仪器。每个模块均针对特定仿真任务——热电偶、DAC 或任意波形——精确复现真实传感器或信号行为，相比通用电压源或任意波形发生器，能够实现更真实、更可靠的自动化测试。"

模块适用于 HIL 仿真、功能测试、传感器仿真、生产测试及故障注入等场景，可通过软件控制对嵌入式控制器及被测设备(DUT)施加电激励，无需物理传感器、环境试验箱或手动故障配置。针对槽位受限的 PXI 及 PXIe 系统，模块将信号生成、传感器仿真、开关及互连功能整合于单一模块化信号路径架构中。

驱动程序支持 Windows 及 Linux 操作系统，驱动 API 兼容 C、Python、C#、MATLAB、Simulink 和 LabVIEW 等多种编程语言，同时提供软前面板以简化开发与调试。提供 PXI 及 PXIe 两种版本，其中 PXI 模块可集成至标准 PXI 机箱及 Pickering LXI/USB 机箱，帮助工程师基于开放的业界标准平台构建可持续、长生命周期的测试架构。