应用
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关于C语言中常见错误概述
C语言的最大特点是：功能强、使用方便灵活。C编译的程序对语法检查并不象其它高级语言那么严格，这就给编程人员留下“灵活的余地”，但还是由于这个灵活给程序的调试带来了许多不便，尤其对初学C语言的人来说，经常会
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采用ARM9微控制器实现上层控制算法解析方案
引言 在很多嵌入式控制系统中，系统既要完成大量的信息采集和复杂的算法，又要实现精确的控制功能。采用运行有嵌入式Linux操作系统的ARM9微控制器完成信号采集及实现上层控制算法，并向DSP芯片发
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用指针万用表判定电容器好坏
用指针万用表判定电容器好坏的步骤如下： 第1步：首先根据电容器容量的大小，将万用表的挡位旋钮转到适当的“Ω”挡，一般容量在1心以下的电容器用“R×10K”挡检测，1～100μF内的电容器用“R×
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VHDL数据对象及各种数据
——存放各种类型数据的容器，包括变量、常量和信号 1. 变量（VARIABLE） 规则：只能在进程（PROCESS）、函数（FUNCTION）和过程（PROCEDURE）中说明和使用的局域量 定义格式： VARIABLE 变量名：数据类型{：=初始值
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基于μC/OS-II嵌入式系统的EPA通信协议的实现方案
1. 引言 《用于工业测量与控制系统的EPA系统结构与通信规范》（以下简称EPA）是基于工业以太网的实时通信规范，它有效地解决了以太网通信的确定性通信问题，进而可以应用于多种工业领域，构成各
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用万用表（机械表）电阻档判断电容器的好坏
1、用万用表电阻档检查电解电容器的好坏电解电容器的两根引线有正、负之分，在检查它的好坏时， 对耐压较低的电解电容器(6V或 l0V)，电阻档应放在R×100或 R×1Ｋ档，把红表笔接电容器的负端，黑表笔接
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GBT 17574.11
GBT 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范.rar将鼠标放在附件.rar处即可修改，建议用9.0版PDF阅览器查看此技术资料下载址：http://www.y
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嵌入式系统中动态随机存储器性能的研究
引言 随着超大规模集成电路的制造工艺的进步，在单一芯片上动态随机存储器实现了更高密度的比特位，使得计算机系统在计算速度迅猛发展的同时，内存容量极大的扩大。伴随着集成度的提高，存储器单
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如何用数字万用表测电容好坏
用数字万用表测试电容好坏的步骤如下：1、判断极性，先把万用表调到100或1K欧姆档，假定一极为正极，让黑表笔与它连接，红表笔与另一极连接，记下阻值，然后把电容放电，即让两极接触，然后换表笔测电阻
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关于多路同步串口的FPGA传输实现
随着集成电路技术的发展，FPGA和DSP以及ARM以其体积小、速度快、功耗低、设计灵活、利于系统集成、扩展升级等优点，被广泛地应用于高速数字信号传输及数据处理，以DSP+FPGA+ARM的架构组成满足实时性要求的高速数字处
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ARM9和Linux操作系统构成的电力负荷终端系统的设计
随着客户对电能质量要求的逐步提高，传统的电力网络难以满足发展要求。为此，提出发展“全覆盖、全采集、全预付费”智能电网的设想，以实现传统电网的升级。电力用户用电信息采集系统——智能电网管
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对无刷控制器好坏的测量方法
一、 断电检测（用二极管档）1、 检测控制器电源输入正负极早否短路2、 检测控制器绕组线参数：A、 用黑表笔接电源正极，用红表笔分别接触黄、绿、兰三根绕阻线，参数在400-700之间B、 重复2的步骤3、
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基于前馈仿真设计
摘 要：从前馈技术的基本原理出发，针对多载波系统对放大器提出较高的交调抑制要求，利用MWO微波仿真软件按照器件参数进行了初步的前馈仿真设计，并分析了应用中误差放大对消不理想的主要原因，对主、辅放大器可能存
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一种嵌入式视频采集系统的设计
前言 图像采集与存储功能构成的嵌入式监控系统是安全防范技术体系中不可缺少的重要组成部分，随着微电子技术和软件技术的发展，嵌入式技术也有了长足的进步。因此，基于嵌入式技术的图像数据采集
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万用表判断变频器整流桥是否损坏及损坏原因
用万用表电阻挡即可判断变频器整流桥的损坏，对并联的整流桥要松开连接件，找到坏的那一个。损坏原因分析： （1）器件本身质量不好； （2）后级电路、逆变功率开关器件损坏，导致整流桥流过短路电
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