什么是光谱分析仪投射测定?光谱分析仪测量受哪些因素影响?

在这篇文章中，小编将对光谱分析仪的投射测定以及影响光谱分析仪测量的内在因素的相关内容和情况加以介绍以帮助大家增进对光谱分析仪的了解程度，和小编一起来阅读以下内容吧。

一、光谱分析仪引言

光谱分析仪，是一种用于测量发光体的辐射光谱，即发光体本身的指标参数的仪器。光谱分析就是从识别某些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关，因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。

二、光谱分析仪的投射测定

光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。

绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。

曾经研究过光栅效率与波长、入射角、镀层厚度、镀层材料以及其它因素的关系。所有这些测量都指出，在许多情况下能量损失是非常显著的，并且光栅的效率低于1%，光栅的不同部分可能有明显不同的效率。

三、影响光谱分析仪测量的内在因素

在了解了光谱分析仪的投射测定的相关内容后，我们再来看看影响光谱分析仪测量的一些内在因素。

1. 物理干扰

物理干扰是指在样品转移和蒸发过程中任何物理因素变化引起的干扰效应。属于此类干扰的因素包括：测试溶液的粘度、溶剂的蒸气压、雾化气体的压力等。物理干扰是非选择性干扰，对样品元素的影响基本相似。

制备类似于测试样品的标准样品是消除物理干扰的常用方法。当样品的成分未知或无法匹配时，可以使用标准添加方法或稀释方法来减少和消除物理干扰。

2. 化学干扰

化学干扰是指由测试元件与其他组件之间的化学相互作用引起的干扰效应。它主要影响测试元件的原子化效率，并且是原子吸收分光光度法中干扰的主要来源。这是由于在液相或气相中被测元素的原子与干扰物质的组成之间形成了热力学更稳定的化合物，这影响了被测元素化合物的离解和原子化。

消除化学干扰的方法包括：化学分离; 使用高温火焰; 加入释放剂和保护剂等。

3. 电离干扰

高温下原子的电离会降低基态原子的浓度，并导致原子吸收信号降低，这种干扰称为电离干扰。电离效应随温度和电离平衡常数的增加而增加，而随被测元素浓度的增加而减小。添加更容易电离的碱金属元素可以有效消除电离干扰。

4. 光谱干扰

光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在非吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等。当采用锐线光源和交流调制技术时，前3种因素一般可以不予考虑 ，主要考虑分子吸收和光散射地影响，它们是形成光谱背景的主要因素。

5. 分子吸收干扰

分子吸收干扰是指由原子化过程中产生的气体分子，氧化物和盐分子吸收辐射引起的干扰。光散射是指在雾化过程中生成的固体颗粒会散射光，从而使散射光偏离光路，并且无法被检测器检测到，从而导致高吸收值。

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