NI携手TD产业联盟参加首届中国电子信息博览会

美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)于2013年4月10-12日参加了由工业和信息化部与深圳市人民政府共同举办的第一届中国电子信息博览会(简称：CITE)。本届博览会是在原有中国电子展、中国消费电子展(CEF)、深圳光电显示周、中国(国际)彩电节的基础上整合而成。展会展出产品技术覆盖电子信息产业全产业链，是目前为止亚洲最大规模的综合电子信息展览。通过参与“TD产业联盟”的综合展区， NI向到场嘉宾展示了NI在无线通信领域尤其是移动通信测试的最新产品和技术。

NI在“TD产业联盟”展区展示其产品和解决方案

NI的无线通信测试方案，采用以软件为中心的模块化射频仪器构架，基于现成可用的模块化硬件设备，通过丰富的射频与无线工具包以及IP共享，从TD-LTE到最新的802.11ac，工程师可快速实现从研发验证到生产测试的一体化流程：对于研发验证，通过提供基于软件无线电架构的开放式测试验证平台， 助力企业和研究院所的自主创新和自主知识产权;对于制造测试，通过提供高速并行式产线测试平台 ，为企业提供高性价比的一站式测试解决方案 。

NI在现场设置的展台向到场嘉宾展示了NI在无线通信领域的最新产品和技术，包括基于业界首款矢量信号收发仪NI PXIe-5644R 的802.11ac测试系统，TD-LTE终端测试系统，以及针对移动通信终端的多协议多终端并行测试系统。

PXIe-5644R结合了矢量信号分析仪、矢量信号发生器以及基于FPGA的实时信号处理和控制，具有快速的测量速度和小巧的组成结构，同时具有高灵活性和性能。PXIe-5644R具有高达80 MHz的实时带宽以及最高至6 GHz的中心频率，并提供了业界领先的EVM测量性能，可以满足802.11ac的带宽，频率，精度要求. PXI平台可提供同步功能，使得其尤其适用于MIMO，单个机箱中可允许使用多达5个PXIe-5644R，来构建5x5 MIMO系统。

多协议多终端并行测试系统方便地实现了单套测试系统并行测试四个待测终端，具体包括GSM的校准与综测、WCDMA的校准与综测、WiFi测试、Bluetooth测试以及GPS测试等，为进一步提升测试效率降低测试成本提供了一站式解决方案。

对于日益复杂化的消费电子产品和移动终端来说，测试工程师所需要关心的除了射频之外，还需要开发摄像头，屏幕，耳机，电池以及数字接口的测试系统，测试需求越来越复杂。NI所提供的测试平台除了射频测试之外，还能为包括数字接口，音视频，电池等其他各项功能提供一站式测试平台。

通过与TD联盟的合作，NI希望能抓住TD产业链蓬勃发展的机遇，为研发验证及制造测试的工程师们提供一个统一的平台，帮助降低测试成本，从而提高产品的市场竞争力，为电子、通信领域的飞速发展提供测试技术强力支撑。