NI新兴半导体测试技术研讨会开跑

美商国家仪器(NI)将于今年4月10日在新竹科技生活馆举办研讨会，介绍如何将PXI平台应用在R&D的研发验证与产线的大量生产测试系统，让R&D端与产线端可以使用相同的测试系统，以大幅减少测试成本，并藉由PXI平台同步测试的优势来提升测试速度，同时分享如何用PXI平台进行多种无线通讯协定的混合测试。

根据经济部统计，2011年半导体产值已超过1.5兆台币，加上新制程及IC技术不断推进，半导体厂商每年需投入高达10%??的总体营收在设备上，伴随着2012年近期景气愈趋明朗，产线满载的情形下，「产品测试」端的测试速度及测试品质亦相对被要求，这些无疑都是即将要面临的挑战。

若将产品的测试流程放大来看，R&D进行EVT、DVT，进而再交由产线进行PVT，若R&D和产线使用的测试设备不同，除了增加实质的测试成本，也增加了双方沟通的时间成本；一般统计若R&D与测试端采用相同的测试设备，将可缩减一半的资金成本，且整体时间支出也将缩短2.5倍以上。

为帮助半导体厂商降低测试成本与时间，美商国家仪器开办新兴半导体测试技术研讨会，欢迎各界相关专业人士一同与会，体验PXI所带来的超速测试和一机到底的量测新风潮。

美商国家仪器网址：ni.com