惠瑞捷将于VOICE 2011提出多项半导体测试论文简报

由半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)所主办的使用者社群会议暨合作伙伴研讨会「VOICE 2011」即将于2011年4月19~21日在加州圣塔克鲁斯(Santa Cruz)市举行，此一国际性论坛将针对惠瑞捷系统提出广泛的IC测试技术，并有众多来自晶片厂商与创新测试技术有关的方案与论文，也将在会中发表，与会者将能在现场分享与交流技术观点，更能了解最新的半导体测试技术和最佳实作。

惠瑞捷负责主办2011年研讨会的会议主席Rich Lathrop表示，2011年有全球各地的半导体制造商提供总计60份技术简报内容，其中包括来自11个国家、25家公司的论文，也因此让此会议既具有国际参与性，亦符合测试相关主题的原始宗旨，各方所提出的优质论文更让会议生色不少。

除了由惠瑞捷的客户、合作伙伴和技术专家们所提供的60场简报外，该会议还有8场技术应用研讨会(technical track)，针对客户平日所需要的硬体设计、测试技术和方法、工程效益、以及量产测试等主题，提供最实用的产品教学。另外，会场上并安排了惠瑞捷的研发人员、产业专家和供应商的技术人员设置摊位，让与会者可以在供应商博览会(Suppliers’ Expo)中，参观并了解更多相关产品和完整的惠瑞捷解决方案。

有鑑于2010年活动的成功，VOICE 2011大会亦纳入了为期1天的产品实作展示区，提供8个单元来教导测试工程师如何在V93000测试平台上发展出高效率的测试方案和提高检验速率，并且能与测试开发和IP再使用结合运用、学习最新的V93000功能，以及采用目前的通讯系统就RF调变格式进行除错改善动作。