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惠瑞捷全新的HSM3G高速内存测试解决方案

时间：2010-08-11 08:57:00

关键字：内存测试解决方案 3G DDR3

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[导读]惠瑞捷全新的 HSM3G 高速内存测试解决方案为 DDR3、DDR4和更高级的内存提供了低廉的测试成本平价的升级提供了未来三代设备多代发展路径惠瑞捷 (Verigy)（纳斯达克代码：VRGY）推出了全新的 HSM3G 高速内存测试解

惠瑞捷全新的 HSM3G 高速内存测试解决方案为 DDR3、DDR4和更高级的内存提供了低廉的测试成本平价的升级提供了未来三代设备多代发展路径
惠瑞捷 (Verigy)（纳斯达克代码：VRGY）推出了全新的 HSM3G 高速内存测试解决方案，进一步拓展V93000 HSM 平台在以DDR3世代为主的内存 IC 和未来更高级内存的测试能力。V93000 HSM3G 独特的优势在于其未来的可升级性，能够为未来的三代 DDR 内存提供数据传输速度高达6.8 Gbps且价格低廉的测试服务，从而前所未有地长期节约测试成本。
惠瑞捷 SOC 测试副总裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“内存制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一个世代产品寿命更长、投资价值更高的经济型 ATE 解决方案。我们可升级的V93000 HSM 测试平台提供前所未有的使用寿命，能够为从 DDR3 到 DDR4 再到将来更高级的主流 DRAM 至少三代产品提供卓越的投资报酬。这些测试的经济效益，在业界其它产品均不可及。”
V93000 HSM3G 已俱备未来的速度和功能性，提供了高速内存测试市场上最完整的特性。其可程序设计的、全速的每引脚 APG 能力加上能够产生针对数据总线倒置 (DBI) 和循环冗余检查码 (CRC)所需的相关测试数据，对于进阶的 DDR4 内存技术特性能够提供足够的测试需求，以确保较高的测试质量和产量。
得益于其每引脚的内存自动测试设备处理能力，V93000 HSM3G 可以节约高达20%的测试时间。它可以提供全并行模式的功能测试 (parallel pattern execution)、全并行的DC特性检测以及眼图的测量(eye-width measurements)，从而提供了相当高的多任务效率。
V93000 HSM3G 可以提供实质 2.9 Gbps 的数据传输速度以及完善的256-site DDR3并行测试(parallel testing)，在整个所需的测试速度范围内不会增加任何不必要的测试时间，也不会影响准确性、功能性、测试范围以及产量。归功于可提供充裕的实质速度(native speed headroom)，HSM3G 可以满足所有主流DDR3 各种速度分级需求以及高级游戏机DDR3 和前两个 DDR4 量产的速度等级。V93000 平台架构对于未来更高速的产品测试需求，确保将来能够升级的能力。
惠瑞捷简介
惠瑞捷公司 (Verigy)致力于为全球知名厂商提供设计验证、特性量测、以及大批量生产测试所需的先进的半导体测试系统和解决方案。惠瑞捷提供的各式可升级平台涵盖各种系统级芯片 (SOC)、闪存和 DRAM（包括高速内存）存储系统以及多芯片封装 (MCP) 测试解决方案。惠瑞捷提供的先进分析工具可协助客户加快设计除错与良率提升的过程。有关惠瑞捷更详细的信息，可查询：www.verigy.com网站。