专业创新，助力行业远航

2014年4月8-10日在北京将举办第二届电子设计创新会议（Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2014）。EDI CON由美国微波杂志主办，是享誉全球的的行业盛会。在中国去年成功第一次举办的基础上，将逐渐成为中国电子工业领域一年一度的盛事，致力于为设计工程师和系统集成商提供了解当今通信、航空航天、计算机、RFID、工业无线监控、导航及相关市场最新RF、微波和高速数字产品及技术的绝佳机会。

届时，德国的罗德与施瓦茨公司作为欧洲最大的电子测量仪器公司和全球最大的EMC系统集成公司， 将参加所有的讲座、演示及研讨会，将有多位来自德国和中国本土的专家参与14个专题讲座、两个专题讨论和11个主题展示，全面覆盖大会的电子设计板块、测量与建模板块、系统与工程板块和商业应用板块，全方位介绍罗德与施瓦茨公司在微波毫米波、电磁兼容、导航、雷达、元器件等领域的最新测试技术和最新的电子测试与测量仪器。

14个主题讲座分别为：

· 160MHz实时频谱分析技术

· 采用外混频的频谱分析技术用于E波段的无线链路测试

· 320MHz宽带分析技术用于雷达信号分析与卫星通信多载波群时延测试

· CISPR发射标准中FFT技术的作用与挑战

· GNSS系统与应用

· 包络跟踪技术的放大器测试

· 现代测量技术提升雷达系统性能

· NFC概述与测量

· 基于安卓移动通信设备的DC到毫米波范围的高精度功率测量

· 毫米波频段宽带信号产生与分析技术

· 卫星上变频器特性测试

· 在轨卫星的群时延测试技术

· 射频PCB测试技术

· VoLTE测试技术

两个专题讲座分别为：

· 宽带实时信号分析技术

· 功率放大器的精确高效测试

11个主题展示分别为：

· 40 GHz经济型的高性能矢量网络分析仪

· 最先进的EMI认证测试技术

· 先进的微波功率测量

· VoLTE测试解决方案

· 现代雷达信号产生与分析

· 宽带实时信号分析技术

· 包络跟踪测试技术

· 汽车电子测试方案

· 射频微波测试技术培训与教学方案

· 时频域联合信号分析技术

· Value Instrument

与会代表和参观者将直接接触和了解到R&S最新的测试技术、核心的测试测量仪表以及根据客户需求定制开发的电磁兼容和微波射频测试解决方案。这些新产品和亮点引导着新领域的电子设计发展，成为电子设计领域的专家与工程师共同关注的焦点。R&S公司向行业内的用户展示了一如既往的承诺：为广大客户提供一流的产品、优质的服务以及先进的理念。

敬请光临R&S公司展台：北京国际会议中心No.101