ADVANTEST测试技术研讨会

时间：2004-02-02 14:32:24

关键字：研讨会测试技术 TEST AN

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[导读]ADVANTEST公司在北京举办了主题为“ADVANTEST测试技术研讨会”，此次研讨会共吸引了包括天津Motorola、SGNEC、华大、华虹NEC、大唐、龙芯、北大众志、清华大学、北京大学、各相关研究机构的120多位业界代表、IC测试人

ADVANTEST公司在北京举办了主题为“ADVANTEST测试技术研讨会”，此次研讨会共吸引了包括天津Motorola、SGNEC、华大、华虹NEC、大唐、龙芯、北大众志、清华大学、北京大学、各相关研究机构的120多位业界代表、IC测试人员及设计人员积极参加。市场部经理刘勇强先生代表总经理致词。会议主要由ADVANTEST公司技术人员做报告，会上与与会嘉宾就技术及解决方案相关总是进行了探讨和交流。报告有“Soc Road Map及产品介绍、非接触IC卡芯片的低成本测试、Using EDA Linkage To Address Today Soc Test、LCD Driver IC测试基础、Flash Memory测试解决方案”。还邀请清华大学张向民教授做了高速AD、DA的测试评价报告。本文摘自《半导体技术》