(一)背景

因为flash价格变动，以及设备存储空间大小的需求变更，经常需要引入新的flash型号，以以往的项目开发经验，新flash引入后，较容易出现异常，具体异常可见《nor flash 问题记录列表》。其中问题原因有可能是flash本身原因，也有可能是我们设备存在干扰，还有可能是我们设备主控与flash器件之间存在兼容性问题。为避免将该类问题流到设备量产阶段，需要对新引入的flash器件进行可靠性测试。

所谓低功耗设备，也就是设备是接电池的，不是直接接常电的设备。该类设备的特点就是：电压容易波动，经常需要开关机，设备有时候还会处于低电量运行。

(二)测试目的

将flash器件问题暴露在选型阶段
降低新flash器件型号批量生产风险

(三)可能的影响因素

一般flash器件出现异常，可能的影响因素有下面几种:

A、用户代码对Flash的误操作不当引起程序丢失或被错误改写

这种情况一般出现在需要经常对flash进行增删改操作的情况
对于低功耗设备，或是设备经常需要开关机的设备，出现的概率会更高

B、电源失效

电源电压的异常可能会导致系统工作异常的现象，如输出电压小于芯片系统工作所需的最小电压，输出电压不干净，噪音严重等，这些很容易引起芯片内部电路的逻辑紊乱，Flash的读写信号处于不稳定状态。可能产生满足Flash的写操作，从而给系统带来严重的损害。

这类问题在低功耗设备上比较经常出现，因为用户经常忘记充电，电池电压经常放电到设备不能运行，这中间就有一个不稳定的过渡状态。
这类问题有个解决方案，就是电池电压掉到某个电压值，设备就进入低电模式，这可以避免这类问题的出现。但这可能会引入另外一个问题，就是设备电池电量检测不是很准，导致设备异常进入低电模式。在电池容量比较小，同时设备功耗波动比较大的条件下，电池的容量是比较难测量准确的。