带电粒子的测量与探测器的基本类型

ORTEC带电粒子硅探测器主要有金硅面垒和离子注入两种工艺，耗尽层厚度从10微米到几个毫米厚不等。而根据其几何形状与是否全耗尽又分为诸多类型。选择合适的带电粒子探测器，除应用本身外，应综合权衡耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、能量分辨率等性能指标。Alpha能谱测量用于alpha能谱测量的ULTRA和ULTRA-AS探测器采用了表面钝化和离子注入工艺（即PIPS探测器），这两个系列的探测器有诸多优点：接触极更薄，更坚固；低噪声，对Alpha能谱分辨率好；使用边缘钝化技术，可以使样品离探测器入射窗小到1毫米（一般面垒型探测器最小只能达到2.5毫米），探测器效率更高常温使用探测器窗可擦拭Ultra-AS和Ultra的区别或改进是采用了低本底材料，以专适于在ORTEC Alpha Suite谱仪。ULTRA-CAM系列则是针对气溶胶连续监测设计，探测器具有特殊密闭和抗潮性能。Beta能谱测量Beta能谱测量的难处在于常温状态下，硅探测器很难获得良好的分辨率，ORTEC提供以下两种解决方案：Beta-X Si（Li）一体化探测器（包含探头，冷指前放）；A和L系列可制冷的厚硅探测器。带电粒子探测器的选择带电粒子探测器在核物理实验中诸多方面的应用，ORTEC在其探测器类型上都有相应的侧重：比如重离子由于其高度电离和短径迹特性，需要探测器在前接触级具有强电场，适用的F系列探测器在前接触级的场强为20,000V/cm。而对带电粒子的时间谱测量，需要用ULTRA系列或能承受超电压的强电场局部耗尽探测器。