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[导读]通过电源产生足够大的电流去测试大电流传感器(小到几kA大到500kA),不仅从成本上考虑不允许而且也不现实。因此, 通常的方法是采用较小功率电源,并且母排由多个迭片叠加迂回构成,这样用总的安培匝数来模拟母排电流。

通过电源产生足够大的电流去测试大电流传感器

(小到几kA大到500kA),不仅从成本上考虑不允许而且也不现实。因此, 通常的方法是采用较小功率电源,并且母排由多个迭片叠加迂回构成,这样用总的安培匝数来模拟母排电流。虽然这种方法看上去很理想,但还是有许多缺点:

  在大多数情况下,层迭的母排形成一个或两个分开的多匝绕组(相当于一个或二个大线圈),这样会构成一个不平衡的磁场从而影响一些设备的校准精度。理想情况下,母排绕组应该围绕直流传感器对称地布置,但这样大多数厂商实际操作起来不现实,因为它要求一个很大空间和大量绕组,需要注意的是这种母排绕组形式与多匝法测试线圈类似但规模上更大一些。

  母排必须有回路到电源,除非返回母排距离传感器比较远或绕组尺寸很大,否则它会产生一个不平衡的外磁场对传感器形成影响。通常情况下由于空间限制返回母排在大部分测试设施与传感器距离较近。

  在整流器的输出端,母排的布置构成一个低电感值回路,因此母排上的电流通常存在很大的纹波和谐波成份。一个电源在这种模式下很难长时间工作,其稳定性也不能保证。

  在许多情况下去改变母排的形状以适应不同形状和尺寸的传感器是很困难的且在一些情况下不可能实现。理想情况下,母排的形状可以大体上与传感器窗口形状大小相匹配,并且母排要占据传感器窗口一半以上的空间以保证提供最好的精度。

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