【FAQ 之 物理层测试系统（PLTS）】用PLTS进行频域测量
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问：
答：PLTS和PNA、ENA-TDR的时域变换原理都是一样的。上升时间和频域测量带宽成比例关系的，测量带宽越宽，上升时间越窄，能看到更加细微的时域阻抗不连续。对PLTS来说，标称上升时间(10/90) = 720 / FreqStopGHz，对20 GHz的测量，标称上升时间为36 ps（PNA和ENA-TDR由于使用不同的窗函数，上升时间会稍有差别）。在这几种仪器和软件的时域变换中，都使用了窗函数来解决时域响应的旁瓣问题，用窗函数的参数可以对旁瓣的大小和主瓣做一定的调整，因此可以用来在一定范围内调整上升时间。PLTS现在使用的窗函数是指数窗，具有较窄的上升时间调整范围。我们将在PLTS2013 Update 1中加入Kaiser窗，可以提供和PNA一致的较宽的上升时间调整范围。另外我们还将提供Gaussian, Hanning, Hamming, Blackman, Chebyshev等几种窗函数供用户选择。
注：什么是PLTS？
物理层测试系统（PLTS）2014 版软件是一款功能强大的信号完整性测试工具，主要面向高速数字系统的设计人员。市面上有很多种信号完整性测试工具，可对高速互连进行设计、分析和故障诊断。设计人员很难对其进行全面管理。Keysight PLTS 设计团队所开发的 2014 版软件集成了全新测试工具，可以显著提升生产效率，帮助信号完整性工程师解决实际问题。
PLTS 软件平台已经成为对线性无源互连（例如电缆、连接器、背板和印刷电路板）进行校准、测量和分析的行业标准。即使用户不熟悉微波测量技术知识，也能利用矢量网络分析仪（VNA）或时域反射计（TDR）快速、精确地执行测量。PLTS 2014 支持所有最新的 PNA/PNA-L/PNA-X 硬件，包括 N5222A、N5224A、N5225A、N5227A、N5232A、N5235A、N5244A、N5245A 和 N5247A。
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