R&S全面电磁兼容和射频微波创新方案亮相首届电子设计创新会议

由Microwave Journal 和《微波杂志》(Microwave Journal China)主办的首届电子设计创新会议(Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2013)将于2013年3月12日-14日在中国北京举办。德国罗德与施瓦茨公司是欧洲最大的电子测量仪器公司和全球最大的EMC系统集成公司， 将参加EDI CON的讲座、演示及研讨会，届时，罗德与施瓦茨公司将有六位来自德国的专家、一位来自俄罗斯的专家和多位中国本地的专家，分别以五个专题讲座、两个专题讨论和七个主题展示，参与大会的电子设计板块、测量与建模板块、系统与工程板块和商业应用板块，全面介绍罗德与施瓦茨公司在微波毫米波、电磁兼容、导航、雷达、元器件等领域的最新测试技术和最新的电子测试与测量仪器。

五个主题讲座分别为：基于时域扫描的EMI测试接收机技术、卫星导航应用、变频设备的噪声系数测试、宽带放大器设计的挑战、反射测量的误差源分析。

两个专题讲座分别为：微波毫米波测试解决方案和矢网的单次连接全面测量技术。

七个主题展示分别为：110GHz测试系统、40GHz多端口测试系统、基于多音技术的群时延测量系统、雷达脉冲信号分析系统、最新EMI测试接收机、导航测试解决方案、最新示波器技术。

与会代表和参观者将直接接触和了解到R&S全面的电磁兼容测试技术与解决方案、在射频微波领域的先进测试技术，以及以R&S的测试测量仪表为核心，根据客户需求定制开发电磁兼容和微波射频测试解决方案。这些新产品和亮点引导新领域的电子设计发展，是电子设计领域的专家与工程师共同关注的焦点。