在半导体封装领域,BGA(球栅阵列)封装技术凭借其高引脚密度、低电阻电感和优异散热性能,已成为高性能芯片的主流封装形式。然而,随着芯片集成度与功率密度的持续提升,BGA焊点中的裂纹与微孔缺陷逐渐成为制约产品可靠性的核心问题。这些微观缺陷不仅会降低焊点机械强度,更可能引发信号传输中断、热失效甚至整机故障。本文将从缺陷成因、检测技术及工艺优化三方面,系统解析BGA裂纹与微孔的防控之道。
抗干扰能力强。干扰噪声一般会等值、同时的被加载到两根信号线上,而其差值为0,即,噪声对信号的逻辑意义不产生影响。
混频器通常由非线性元件和选频回路构成。混频器位于低噪声放大器 (LNA )之后 , 直接处理 LNA 放大后的射频信号。
变压器作为电力系统中的重要组成部分,其性能稳定与否直接关系到整个系统的安全运行。
LED驱动电源的输入包括高压工频交流(即市电)、低压直流、高压直流、低压高频交流(如电子变压器的输出)等。
激光焊接机,又称激光焊机、镭射焊机,是一种利用高能量激光束进行材料加工的焊接设备,主要应用于汽车制造、电子工业、生物医学及模具修复等领域。
正弦驱动不但可实现直流无刷电机的高效率运行,还可实现无脉动的转矩输出,但控制过程比较复杂。
在AC-DC SMPS应用中,桥式整流器被用于将交流输入转换为直流总线电压,并为第二级的隔离DC-DC转换器供电。其中,电流与输入电压的不匹配会给电网带来大量的谐波反馈。
UPS电源的备用延时时间是指在停电或电网故障情况下,UPS电池能够提供电能的持续时间。
在电力电子设备的运行中,EI 变压器作为一种常见的电磁转换装置,其空载电流特性直接关系到设备的能效与稳定性。空载电流是指变压器在次级开路时,初级线圈通过的电流,它主要由磁化电流和铁损电流两部分组成。其中,磁化电流用于建立铁芯中的交变磁场,而铁损电流则是因铁芯的磁滞损耗和涡流损耗产生的。在实际应用中,降低空载电流是提升变压器性能的重要方向,那么增加初级线圈的匝数是否能实现这一目标呢?
在 PCB(印制电路板)设计中,电源部分的布局布线一直是工程师关注的核心环节,其中电感和 MOS 管所在区域的走线限制更是行业内的重要规范。这一设计准则并非凭空制定,而是基于电磁兼容、信号完整性、散热性能等多方面的工程实践总结。深入理解这一规则背后的原理,对提升电源电路的稳定性和可靠性具有关键意义。
在电子设备性能不断提升的当下,散热问题愈发凸显。无论是电脑、手机,还是各类工业设备,过热都可能导致性能下降、寿命缩短,甚至引发故障。因此,选择一个高性价比的散热解决方案,对于保障电子设备的稳定运行至关重要。
在开关电源实际布线时,首先要根据实际应用,仔细分清楚各种地线的种类,然后依据不同地线的特点和电路的需求选择合适的接地方式。不论采用何种接地方式,都必须始终遵守 “低阻抗,低噪声” 的原则,以确保接地的有效性,减少电磁干扰对电源性能的影响。
在半导体制造的精密链条中,测试探针卡(Probe Card)犹如一座无形的桥梁,连接着待测芯片与测试系统,其性能直接决定了芯片良率检测的准确性与生产效率。从5纳米先进制程到第三代半导体材料,从消费电子芯片到航天级器件,探针卡技术始终是半导体质量把控的核心环节。本文将从技术原理、设计挑战、创新趋势三个维度,揭开这一精密艺术的神秘面纱。
在海拔5000米的高原基站中,通信设备需承受-40℃的极寒与55℃的暴晒;在新能源汽车的电池管理系统中,功率模块要在-30℃至125℃的范围内循环工作;在航天器的电子舱内,电子元件更需经受发射阶段的瞬时高温与太空环境的极低温交替冲击。这些极端场景对印刷电路板组件(PCBA)的可靠性提出了严苛挑战,而温度循环测试(Temperature Cycling Test, TCT)正是验证其耐受能力的核心手段。这项通过模拟冷热交替环境来评估材料膨胀/收缩效应的测试技术,已成为电子制造业把控产品质量的“生死关”。