安捷伦最新 X 系列测量应用软件

2014年 2 月 26 日，北京――安捷伦科技公司（NYSE：A）日前推出最新的 X 系列测量应用软件，巩固了其在 LTE-Advanced 测量领域中的领导地位。该应用软件针对LTE-Advanced FDD和TDD 发射机和元器件提供符合最新 3GPP 第11 版标准的最全面的射频一致性测试。该测量应用软件既适用于台式测试仪表[!--empirenews.page--],也适用于模块化测试仪器。

LTE-Advanced是 LTE 标准发展的演进。在整个 LTE 开发周期内执行准确的测试与测量，这对于 LTE-Advanced 的成功推广仍然是至关重要的。安捷伦之前推出的业界领先的LTE-Advanced 信号分析仪和信号生成解决方案在研发阶段解决了这一问题。今天安捷伦推出的最新嵌入式LTE-Advanced X 系列测量应用软件能够在设计验证与生产制造阶段更好的解决这个测试难题。

最新LTE-Advanced测量应用软件为AgilentX 系列和[!--empirenews.page--]模块化信号分析仪提供一键式测量。该应用软件测量速度快、操作简单，可进行 SCPI 编程、执行合格/不合格测试，是设计验证和生产制造的理想工具。

安捷伦副总裁兼微波与通信事业部总经理Andy Botka 说：“LTE-Advanced 发射机和元器件的验证与生产制造要求使用业内最优秀最领先的解决方案。凭借安捷伦在前沿无线技术标准开发领域中的出众经验，这款支持 3GPP 第11 版标准的最新嵌入式测量应用软件将会快速准确的帮助我们的客户进行深入分析，信心十足地面对LTE-Advanced 无线测试。”

[!--empirenews.page--]更加简单的射频一致性测试

AgilentLTE-Advanced 测量应用软件根据3GPP 第 11 版标准的定义，可在 LTE-Advanced发射机的连续和非连续配置下执行业内最全面的射频一致性测试。该应用软件支持的测量包括：发射机输出功率测试、发射信号质量测试、基站和用户设备的多余辐射测量。

该测量应用软件还针对带内非连续载波聚合提供累积ACLR（CACLR）和累积频谱辐射模板（SEM）测量——这是3GPP 第 11 版提出的新要求。由于在标准中规定[!--empirenews.page--]sub-block间隙中的频谱可额外部署，带内非连续载波聚合配置引入了多余辐射测量的特殊挑战，新增了 CACLR 要求和特殊的 SEM测量模板。最新LTE-Advanced 测量应用软件是市场上唯一一款针对非连续载波聚合提供 CACLR 和特殊 SEM 模板的解决方案。

X 系列测量应用软件

X 系列测量应用软件能够提高安捷伦信号分析仪的能力和功能，加快分析速度。测量应用软件可为蜂窝通信、无线连通性、数字视频和通用应用等方面的特定任务提供关键测量，覆盖了 40 多种标准或调制类型。该应用软件适用于台式测量仪表和模块化测试仪器，唯一的不同是仪器硬件实现的性能水平。选择适合您应用的性能水平，充分确保从开发到生产制造过程中信号分析仪始终保持一致的计算和算法。[!--empirenews.page--]

如欲了解有关LTE-Advanced 测量应用软件的更多信息，请访问 www.agilent.com/find/LTEAdvApp。测量应用软件的图片，请访问 www.agilent.com/find/LTEAdvApp_images。

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安捷伦在2 月 24 至[!--empirenews.page--] 27 日于西班牙巴塞罗那举办的全球移动通信大会（二馆2I8MR 和 2J9MR2 贵宾室）中，展示最新的无线设计和测试解决方案，以协助工程师克服目前与未来在 LTE、LTE-A 以及3GPP 第 11/12 版标准所面临的测试技术挑战。客户能够安排时间与安捷伦专家面对面探讨上述测试和测试解决方案，以帮助他们应对最复杂的无线通信挑战。如欲了解更多信息，请访问安捷伦蜂窝、[!--empirenews.page--]安捷伦无线、安捷伦高速数字解决方案和 5G 的当前举措。