爱德万多功能测试平台切入快闪储存装置测试市场

爱德万测试(Advantest Corp.)发表多功能 NEO-SSD 平台，挥军高阶 PCI Express (PCIe) 3.0 NVMe 企业级/消费性应用固态硬碟(SSD)测试市场。爱德万测试以此平台为基础开发了一系列测试解决方案，预定于今年(2013)第四季开始向客户出货。此 NEO-SSD 平台可随需设定，支援多种通讯协定，具备各种 SSD 系统等级测试功能，包括工程验证、设计验证、可靠性验证与生产测试。
根据预估到2017年时， SSD 的市场规模将成长5倍，数量将超过2亿，目前 SSD 在市场上的推广应用仍处于初期发展阶段，装置通讯协定与测试策略也还在调整中，因此必须仰赖具备高效能和弹性的有效测试解决方案。

NEO-SSD 平台采用爱德万测试的 Tester-per-DUT 独立架构，可让客户根据本身的特别需求平衡成本与效能。这套系统可支援各种大小的被测设备，例如硬碟、介面卡以及各种通讯协定，包括 PCIe 3.0 介面。随着资料中心、桌面电脑、 Ultrabook 与行动电子装置的汇排流应用标准兴起， PCIe 造成测试市场来不及因应，因为它需要多种版本的新通讯协定支援(如PCIe NVMe、AHCI、UFS与SAS)，且需以全效能运转提供更高汇排流速度，还须有进一步控制元件电源供应的能力，这些需求必须透过高效多通讯协定测试解决方案，才能以高延展性与经济效益达成大量量产高品质 SSD 的目标。

爱德万测试美国子公司Advantest America GTRI副总裁Colin Ritchie表示：「 NEO-SSD 平台让我们得以率先开发出业界第一套真正具有延展性、以平台为基础的 SSD 测试解决方案，为客户提供低成本、高测试效能、快速作业能力与高度讯号完整性等效益。此外，采用 Tester-per-DUT 架构的 NEO-SSD 机台不必与其他设备共用资源，而能创造出突破性企业级效能与品质，且丝毫不影响测试周期或测试范围。」