爱德万切入 快闪装置测试

半导体测试设备领导者爱德万测试发表多功能NEO-SSD平台，挥军高阶PCI Express（PCIe）3.0 NVMe企业级/消费性应用固态硬盘（SSD）测试市场，爱德万以此平台为基础开发了一系列测试解决方案，预定于今年第4季开始向客户出货，此NEO-SSD平台可随需设定，支持多种通讯协定，具备各种SSD系统等级测试功能，包括工程验证、设计验证、可靠性验证与生产测试。

根据预估到2017年时，SSD的市场规模将成长5倍，数量将超过2亿，目前SSD在市场上的推广应用仍处于初期发展阶段，装置通讯协定与测试策略也还在调整中，因此必须仰赖具备高效能和弹性的有效测试解决方案。NEO-SSD平台采用爱德万测试的Tester-per-DUT 独立架构，可让客户根据本身的特别需求平衡成本与效能，这套系统可支持各种大小的被测设备，例如硬盘、适配卡以及各种通讯协定，包括PCIe 3.0接口。

爱德万表示，随资料中心、桌面计算机、Ultrabook与行动电子装置的汇排流应用标准兴起，PCIe造成测试市场来不及因应，因为它需要多种版本的新通讯协定支持（如PCIe NVMe、AHCI、UFS与SAS），这些需求必须透过高效多通讯协定测试解决方案，才能以高延展性与经济效益达成大量量产高质量SSD的目标。