Advantest全新T5831系统支援高速MCP测试

爱德万测试(Advantest)的全新 T5831 系统已开始向客户出货，该系统主要应用于新一代行动装置应用IC (包括搭载高速ONFi或Toggle Mode介面的 NAND 快闪记忆体) 与Managed NAND装置 (如嵌入式多媒体记忆卡eMMC)，且具备多项功能，可支援并行同测多晶片封装 (MCP) 中的NAND快闪记忆体和行动 DRAM 记忆体。
T5831是专为高速平行同测所设计，提供客户低成本测试功能，亦能在未来随需升级，延伸投资报酬，堪称业界最经济测试解决方案。其附随的工程解决方案T5831 ES，最适用于测试程式开发与元件特性分析，可让客户加快整体上市时间。

此套系统提供了许多专为NAND快闪记忆体所设计的重要功能，能以业界最快速度完成测试，此系统的Tester-Per-Site架构不仅可创造高产能，更能提供每装置业界最高电流，加速程式设计和抹除作业；此外，亦能即时执行错误更正码 (ECC) 分析，避免增加后处理测试时间成本。

相较于传统的后处理方式，即时源同步 (source-synchronous) 功能可获得最大产率并提高产能。此系统会自动执行逐周期 (cycle-by-cycle) 调整，以了解制程、电压、温度 (PVT) 与抖动之间的差异所造成的时序漂移，确保资料眼 (data-eye) 的正确性，以在高速下产生最佳产率。其他支援功能还包括：坏块管理、冗余分析和自订/随机资料产生，这意味着T5831可全方位满足NAND快闪记忆体所有测试需求。