爱德万T2000 8Gbps数位模组满足高速测试需求

爱德万测试公司推出 T2000 8GDM ，能满足系统单晶片(SoC)装置各式介面高速测试需求，包括序列式、平行式及记忆介面，如 PCI-Express 与双倍资料传输率(DDR)连接等。
多功能 T2000 8GDM 可支援各种 SoC 介面测试，资料传输率高达8 Gbps，主要功能包括时脉资料回复(CDR)、抖动注入、I/O死带消除、多重闪控作业等。此模组涵盖在 T2000 增强型性能解决方案(EPP) 中，具功能性测试抽象化功能，将进一步缩短周期时间并简化除错。

爱德万测试SoC测试事业体执行长暨执行副总裁Toshiyuki Okayasu博士表示：「全新 T2000 8GDM 的密度更高，效能更强大，支援多重时域高速介面的复杂 SoC 装置测试，并具备专为系统层次的功能性测试所设计 FTA 功能，可望让我们在此市场中扩大市占率。」

爱德万测试所研发的模组与测试机，不仅拥有高效能运作能力，更可提供高产能、多使用者环境以及并列同测功能，达到降低测试成本、加速上市的目标。