NI PXI优化半导体特性描述/生产测试能力

美商国家仪器(NI)再度扩充其PXI平台功能，以新款PPMU(Per-pin Parametric Measurement Unit)与电源量测单位(SMU)模组，用于半导体特性描述与生产测试。其中，NI PXIe-6556-200MHz高速数位输入/输出(I/O)具备PPMU；PXIe-4140与PXIe-4141 - 4通道SMU可降低设备成本、缩短测试时间，并提生混合式讯号的弹性，测试多款装置。

PXIe-6556高速数位I/O模组，可达最高200 MHz而产生/撷取数位波形；或于同一针脚上，以1%误差之内执行直流电(DC)参数量测，可简化接线作业、减少测试次数，并提高测试器密度。此外，其内建的时序校准功能可自动调整时序，可降低不同连接线与线路(Trace)长度所造成的时序歪曲，亦可降至最低。同时，亦可选择是否以其他SMU切换，以达更高精确度，工程师可根据硬体或软体触发器，进而触发参数量测作业。

PXIe-4140/41 SMU模组则可于各PXIe插槽，提供最多四个 SMU 通道；而4U机架高度的单一PXI机箱可达最多六十八个SMU通道，以轻松测试高针脚数的装置。透过1秒可达最多六十万样本的取样率，工程师可大幅减少量测次数，或撷取重要的暂态特性参数。此外，PXIe-4141具备新一代的SourceAdapt技术，让工程师可根据任何已知负载而微调SMU输出，达到最高稳定度与最短暂态期间。传统 SMU 技术并无法提供如此功能。

整合NI LabVIEW系统设计软体之后，新款PPMU与SMU模组更能为半导体，提供模组化的软体定义测试方式，不论是检验、生产、特性描述作业，均可提高品质、降低成本，并缩短测试时间。

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