蔚华科前3季净利年增1.6倍

上海2022年10月12日 /美通社/ -- 位于德国勃兰登堡州（Brandenburg）克莱特维茨（Klettwitz）附近劳希茨（Lausitzring）赛道的DEKRA德凯技术中心，投资七位数欧元新增电驱动和总成测...

PXI和PXIe 4x-785C系列提高了性能，最大程度地降低了占用空间和成本，将于2022年6月19至24日在美国科罗拉多州丹佛的科罗拉多会议中心举办的国际微波研讨会(IMS)的11006号展台上展出

马萨诸塞州北里丁, April 20, 2022 (GLOBE NEWSWIRE) -- 自动化测试设备领先供应商泰瑞达（Teradyne, Inc.，纳斯达克股票代码：TER）今天宣布向中国领先的微控制器（MCU）和安...

台湾桃园2022年1月17日 /美通社/ -- 致茂电子并购ESS Inc. (Environmental Stress Systems, Inc.) 100%股份。ESS主...

中国集成电路设计业2021年会暨无锡集成电路产业创新发展高峰论坛(ICCAD 2021)于2021年12月22日—23日在无锡太湖国际博览中心隆重举行，展会现场人潮涌动、气氛热烈。作为半导体测试设备领军企业，加速科技携S...

射频 (RF) 测试设备用于计算比任何其他通用测试设备支持的频率范围更高的信号。除了标准测量功能外，它们还具有确定 RF 信号(在 3 赫兹至 300 兆赫兹频率范围内传输的无线电波)特性的专门功能。

点击上方“泰克科技”关注我们！ 泰克科技 近日，由忱芯科技（UniSiC）主办的碳化硅功率半导体及应用研讨会在苏州成功召开，横跨芯片、材料、封装及应用领域的多位国内外顶尖的宽禁带半导体技术带头人受邀参会，围绕宽禁带半导体...

中国半导体又失去一名元老级人物，他曾为国内外半导体测试领域发展做出卓越贡献，创办了半导体检测龙头企业华峰测控（股票代码：688200）​，享年72岁。

随着CAN FD与车载以太网的诞生与应用，给新一代智能网联车的整车架构带来显著的变化，也给整车厂和工程师们带来新的机会和挑战。

目前能够提供高质量合格 LED 芯片的主要还是几个国际知名公司如 PHILIP，OSRAM 和 CREE 等少数厂家，一般而言 LED 芯片很少有出现重大质量问题，现在市场上质量低劣的 LED 照明产品很大一部分在驱动电...

半导体测试贯穿设计、生产过程的核心环节。半导体测试就是通过测量半导体的输出响应和预期输出并进行比较以确定或评估集成电路功能和性能的过程，其测试内容主要为电学参数测试。一般来说，每个芯片都要经过两类测试：   （1）参数测...

什么是Multicomp Pro 全新系列优质高精密测试设备?它有什么作用?全球电子元器件与开发服务分销商e络盟独家发售Multicomp Pro 品牌全新系列经济实惠型工业生产级精密测试设备和工具。该系列汇聚最优质的自...

什么是R&S最新微波测试设备?它有什么作用?“加速设计，挑战极限“这是罗德与施瓦茨今年欧洲微波周(EuMW)上的主题，今年欧洲微波周将首次在马德里举行。 在主会场，该公司正在展示其最新的射频和元件测试、航天国防、雷达和5...

实验模态分析（Experimental Modal Analysis）是以振动理论为基础，综合动态测试技术、数字信号处理和参数识别等手段，以模态参数为目标的试验，属于振动试验的一个重要分支。 模态分析试验在结构性能评价、...

2019年8月26日，北京——全球领先的测试和测量设备管理公司Electro Rent (益莱储)宣布，继续增加5G测试设备的投资3000万美元，以过去一年3倍的投资扩充其整个5G测试设备库存，以满足设备制造商和移动网络...

万众瞩目的半导体盛会SEMICON上，NI（National Instruments）作为半导体测试测量行业的引领者在展会上展出半导体测试方案“全家福”，而这正是半导体测试市场所需要的。

　　传导抗扰度测试仪器的组成框图如图所示，其中（a）为电源端口传导抗扰度测试，（b）为信号端口传导抗扰度测试。 　　（1）射频信号发生器（带宽15OkHz～230MHz，有调幅功能，能自动或手动扫...

ATE是“自动化测试设备”的英文缩写，是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。　 　ATE在60年代早期始于快捷半导体（Fair...

从普遍意义讲，电能质量是指优质供电。但是，由于人们看问题的角度不同，迄今为止，对电能质量的技术含义仍存在着不同的认识，还不能给出一个准确、统一的定义。长期以来，电能质量的概念和电力供应可靠性几乎是等同

提高精度已成为最早期矢量网络分析仪（VNA）测量的目标。通过校准和矢量误差校正技术，可以将VNA精度从仪器端口扩展到测试电缆的端点。当待测器件（DUT）直接连接到测试端口电缆时，校准面和测量面是同