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惠瑞捷之記憶體測試系統新增冗餘分析功能
时间：2009-07-16 06:11:00
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[导读]惠瑞捷(Verigy) 宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求。SmartRA正
惠瑞捷(Verigy) 宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求。SmartRA正於7月14至16日的SEMICON WEST展覽中展出。
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惠瑞捷於2008年11月推出的V6000 WS系統，是業界第一套可同時應用於快閃記憶體與DRAM的晶圓測試系統，不僅具備可擴充性，更能滿足大量測試需求。隨著SmartRA的推出，V6000 WS使用者將可輕鬆地透過冗餘分析功能提升產出量及良率。
隨著DRAM密度日漸成長，晶圓測試也面臨更高的挑戰，需要更強的並行測試能力，測試頻率和元件冗餘電路的複雜程度也逐漸提升。這也為冗餘分析帶來了前所未有的大量資料。因此，在擷取失敗資料並有效完成冗餘分析的過程中，加強儲存空間和效能的需求因應而生。
為滿足業界的眾多需求，惠瑞捷開發了SmartRA，藉由此解決方案具備的高效能刀鋒伺服器，企業可依據本身需求提高冗餘分析的處理效能，無須擴充測試機台容量。另外，SmartRA採用開放性軟體架構，客戶可選擇採用惠瑞捷提供的演算法或另外自行開發，可縮短上市時程並降低測試成本。
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