microtec购买多台科利登Sapphire D-10测试系统
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Sapphire D-10自动测试系统曾荣获《测试测量世界》颁发的2005年度“最佳测试”奖项,是一款革新的高产能、多功能圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动以及消费类混合信号器件的低成本测试而设计。她还能实现200MHz的圆片测试、支持高并行度的并行测试.该系统的模块化和灵活性能支持最多768个数字通道和强大的高密度模拟和混合信号仪器,但成本却只有竞争机型的一半。
科利登系统有限公司总裁及首席执行官Dave Ranhoff说:“欧洲领先的测试服务公司购买了多台Sapphire D-10测试系统,证明了我们的产品在该地区的强大渗透力。我们不仅为客户提供领先的测试解决方案,还提供一个高责任性的支持和服务团队。我们期待,在microtec的Sapphire D-10测试平台能帮助我们进一步打入和扩大欧洲市场。Sapphire D-10平台是基于我们专利技术而研制的,能为客户提供一个高产能的测试方案,而且由于其量产及并行测试能力可以帮助客户进一步降低测试成本。最近的大量订单表明了Sapphire D-10系统已经很快地被全球市场接受。”