引领射频微波测试行业发展 安捷伦参加首届国际无线会议及展览

首届国际无线会议（IWS）及展览（IEEE MTT-S IWS）日前在京举行。作为全球最大的测试测量公司，安捷伦科技（NYSE：A）是本次会议的白金赞助商。以“引领射频微波测试”为会议主题，安捷伦电子测量事业部首席科学家、国际微波元器件测试技术的领军人Joel Dunsmore 先生、以及来自全球的资深测试专家参加了本次活动，他们与中国业内专家一起，共同探讨国防电子、微波和通信领域的众多前沿课题。安捷伦副总裁元件测试集团总经理Greg Peters与IWS主席及MTT-S前主席合影留念与此同时，为与用户更为深入的分享安捷伦的产品及领先技术，安捷伦还通过展示长廊、有源微波器件进阶测试技术讲座、国防电子和微波测试测量研讨会、工业论坛等多样的方式，为中国客户和业内专家介绍了安捷伦全球领先的射频微波测试方案：主题演讲安捷伦公司副总裁元件测试集团总经理 Greg Peters 先生在闭幕典礼上作了题为“微波技术：光明的未来”的主题演讲。回顾了微波射频领域的发展，并展望了未来推动微波技术进步的新的市场需求。安捷伦展示长廊安捷伦与Cascade、DecenTest、Electro Rent、Matrix、Maury等国内外合作伙伴深入合作，共同打造了具有超强人气的“展示长廊”展览区域，内容包括太赫兹（750GHz网络仪）、复杂雷达和电子战解决方案、噪声系数测试、晶圆片上（on-wafer）器件测试、北斗/GPS/GNSS 卫星导航等超过12个主题鲜明的展台。安捷伦IWS展台有源微波器件进阶测试技术讲座为帮助国内专业人士深入了解微波器件特别是放大器、变频器等有源器件的测试技术，安捷伦元件测试集团首席科学家、国际微波元器件测试领域的领军人Joel Dunsmore先生结合现场实物测试演示，通过连续4个小时的技术讲座，深入剖析了有源微波器件测试技术。安捷伦专家Joel Dunsmore技术讲座国防电子和微波测试测量研讨会与工业论坛鉴于中国工业、航空航天与国防电子技术的迅速发展，以及射频微波技术在工业、国防电子领域的重要应用。安捷伦在本次国际无线会议期间举办了“国防电子和微波测试测量研讨会”，并积极参与主办方提供的“工业论坛”平台。安捷伦与中国用户一起分享当前工业界与国防电子的最新发展趋势，及安捷伦领先的测试测量应用方案，涉及专题内容包括天线相控阵相参测试、雷达和T/R组件测试、北斗/GPS/GNSS 卫星导航测试、瞬态信号的捕获概率等共计超过20个全球领先的测试测量方案。安捷伦于大会同期举办的国防电子和微波测试测量研讨会安捷伦工业论坛作为国际微波行业最负盛名、最具权威性和影响力的会议，本次由IEEE微波理论与技术协会主办的国际无线会议（IWS）及展览是首次来到中国。其参照IEEE微波理论与技术协会（MTT-S）著名的国际微波年会（IMS）会议模式，集技术研讨会和展览于一体，为广大用户及业内专家搭建了一个展示、沟通、交流的平台。