东芝选择Keithley半导体测试系统用于晶片…
时间:2003-12-23 00:33:23
[导读]Keithley仪器公司宣布,日本的东芝公司已经选择了KeithleyS630DC/RF参数测试系统以支持其最新一代半导体的生产。东芝的高级逻辑技术部在日本横滨做出的这个决定表明它们将以Keithley系统作为首选的参数测试下台。本
Keithley仪器公司宣布,日本的东芝公司已经选择了KeithleyS630DC/RF参数测试系统以支持其最新一代半导体的生产。东芝的高级逻辑技术部在日本横滨做出的这个决定表明它们将以Keithley系统作为首选的参数测试下台。本文摘自《半导体技术》





