IRTS测试系统得到PCB商实施

综合可靠性测试系统（IRTS）公司宣布11月 在一家"关键时间"高级技术印刷电路板制造公司-Tech Circuits公司安装了一套高加速热冲击（HATS(TM)）测试系统。　　在此之前有三套HATS(TM)测试系统分别安装于英特尔公司、香港生产力促进局和Rockwell Collins公司。　　Tech Circuits执行副总裁Gregory Peterson表示："HATS(TM)系统将不仅仅对我们的室内热冲击需求进行支持，还将为美国东北地区提供维修处服务。"　　IRTS首席技术官Tim Estes表示："与气体式测试方法相对，系统在测试时间和成本方面实现了大幅缩减，这证明是Tech Circuits选择我们系统的首要原因。"　　自2003年10月HATS(TM)系统被IPC PCQR2数据库运用，以测试通过菊链结构的可靠性，这提供了许多独特的优势，其中包括：　　--以现有的气体式热冲击标准（IPC-TM-650，2.6.7.2B方法）为基础　　--每块试片带有4网36-试片容量　　--温度循环从零下60℃到零上160℃　　--运行费用比双室系统少　　--缩减循环时间达10倍多　　--高达四天实现1,000周期的速度