NI携其最新产品亮相首届电子设计创新会议

21ic讯 美国国家仪器公司 (National Instruments, 简称 NI)作为金牌赞助商参加于2013年3月12日至14日在北京国际会议中心举办的首届电子设计创新会议(EDI CON)。为期三天的会议为中国的高频/高速电子行业打造了一个全新的技术交流平台，NI也携其射频领域的最新产品亮相此次展会。

走进北京国际会议中心位于一楼的EDI CON展厅，迎面就可以看到NI与其子公司AWR的联合展位。NI向来访客户展示了其在射频领域的最新产品和解决方案，例如NI基于矢量信号收发仪(VST)的信道仿真器与全新WLAN 802.11ac测试方案。通过比较，我们可以看到这款基于PXI平台的射频仪器具备可以与传统箱式仪器媲美的性能指标，同时又兼具灵活性。在NI展台还可以看到其最新发布的矢量网络分析仪与频谱监测仪等其它高性能射频仪器。

NI不仅在硬件和软件上不断研发高端及和射频相关的产品，此外NI还在行业中寻找相关的顶尖厂商进行合作，以丰富NI的射频技术，使NI能有一个更加完整和可靠的射频硬件平台，从而为NI的客户在射频和微波领域提供更好的解决方案。AWR就是NI收购的一家在高频设计和建模上处于领先地位的EDA公司。此次AWR参加EDI CON，为客户带来了专门用于开发高频无线设计的具有新的功能和增强功能的AWR Design Environment™最新版本。这个10.04最新版本包括Microwave Office®/Analog Office® 电路设计软件和Visual System Simulator™ (VSS)系统设计软件，以及AXIEM® 3D平面电磁(EM)软件和 Analyst™有限元法(FEM)EM软件的更新和许多创新技术。

在展会同期，NI还为广大工程师与科研人员带来了精彩纷呈的技术会议。NI资深研发工程师饶勇先生为大家带来了一种新型基于LabVIEW FPGA的8×8MIMO设计的技术讨论;NI射频与微波经理Nikhil Ayer先生则和大家探讨了有关软件无线电，实时频谱分析以及射频测试中的同步等热点问题;NI中国技术市场工程师姚远先生，为大家介绍了软件定义的模块化的解决方案在射频与微波测试领域的优势及相关案例。

目前在中国的无线射频和微波领域诞生了诸多无线标准，像TD-LTE标准、物联网的标准及三网合一的标准等等。这些标准的产生都给测试带来了很大的挑战。NI基于软件的测试系统可以很快得根据客户的需求去改变测试的模块从而满足测试的需求。从中国新标准的制定，到自主品牌手机的生产及手机的终端测试，相信NI的平台一定能为客户提供更好的解决方案。