JTAG测试

现在，边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中，使得在开发、调试和生产测试环境中采用JTAG（联合测试行动组）测试技术。
JTAG技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内，并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是：
·PC成为完整的测试系统；
·成本低，开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加，测试和调试的物理接入正在减少。几年前就预见JTAG边界扫描测试能解决此问题，但是，当时只有少量器件符合JTAG。现在，解决测试接入问题已取得进展，用JTAG作为解决问题的技术，正在使人们更加关注，使得半导体厂家在不断地推出JTAG依从器件。

图1开发系统流程图

避免用探针探测
对于区域阵列互连的表面贴装器件（如BGA、微型BGA封装以及芯片规模封装）采用针床测试产品是困难的，避免用测试工具进行探针探测。
JTAG能提供一种解决方案，但是，第一代JTAG测试开发是以板为中心方法，这意味着任何板变化在对修改的板进行测试前，也需要新的测试向量。这不适合于开发工作，在开发工作中，短时间内设计要多次改变。
然而，把元件边界扫描描述语言（BSDL）文件与板排线表列和测试描述结合起来，通过板本身的地址和数据总线，对安装在板上的很多器件（不管它们是JTAG依从与否）接入是可以的。
一个特殊器件的BSDL文件通常可从供应商免费得到。另一方面，用高级语言可容易地写测试描述。自动化工具可以快速地接入JTAG和非JTAG元件，用BSDL文件，板排线表列和测试描述作为输入数据。这允许在开发环境中容易修正测试。此外，以后每次器件用在项目中时，可以从库中重新调出和重新使用BSDL文件和测试描述。

小变化，大影响
准备和采用边界扫描测试方式有一个小变化，但对于JTAG加速开发，以相同的时间克服测试探针接入问题提供更大的机会。例如，器件为中心的测试能和JTAG在制作样机PCB前验证排线表列。在硬件设计过程中，设计人员也可以精确地评估测试的有效范围，若必要，也可想办法提高测试有效范围。其后，当首批板从制造返回时，可用JTAG来行使板功能，例如，可以测试功能框图（如存储器子系统和硬外设），并在软件准备好之前，集中注意任何硬件缺陷，以便修补。

SoC受益
灵活、以器件为中心的JTAG工具另一应用领域是流行的SoC(系统芯片)装置。SoC复杂性正在增加，特别是现在更多设计用嵌入式芯核在小的芯片面积内增加功能。JTAG为快速和精确的硬件— 软件??衫词迪执?砥鞯魇越涌冢?峁┮桓龇奖愕墓摺Ｋ孀乓的诟?嗟娜艘岩馐兜皆诳朔?导屎图逼炔馐晕侍庵蠮TAG的潜能，现在市场上JTAG依从元件比两年前多很多。然而，在系统CAD排线表列中连接一个JTAG器件，测试非JTAG器件也是可能的。
Cambridge Technology Group 在IP电话设计中成功地测试一个非JTAG依从的Ethernet 控制器。而用XJTAG（开发人员用的一种新的JTAG工具），人们能够用元件制造商的数据来生成一个描述文件，能写实际的Ethernet信息包到控制器而不运行处理器。通过环回连接器读信息包返回，使能IP电话Ethernet 功能，进行全部的测试。

较少的用户描述
正在出现JTAG依从外设，工程师只需编写较少的用户描述。另外，一些器件没有JTAG依从形式。例如SDRAM模块和闪存器件对成本特敏感，而且更迭非常快。用高频语言（如XJTAG的XJease）生成器件为中心的测试使得能快速和精确地产生器件的描述，并在以后设计中可重新使用。
JTAG在整个产品寿命期正在变得重要。很多方面都可从JTAG中受益，这包括设计验证、样机调试、测试工程和早期样机测试以及产品测试和在现场进行板的测试、更新和维修。
工程技术人员需要一个解决方案，用在产品寿命期的不同阶段。关键准则包括重新可用的测试描述，容易移植在不同的板上，以节省工程师时间以及测试JTAG和非JTAG器件的能力。

下一代工具
设计实现上述规则的下一代JTAG工具的特性包括文件锁定来保护已通过测试的程序，防止未许可或非控制存取和编辑。对于给定板或产品，封装所有文件为单个文件，这使得在不同计算机或工作站之间容易传输。允许容易地分配文件锁定测试到产品部门、制造伙伴或现场组。
XJTAG是JTAG工具中最强大的一种，它也提供称之为XJRunner的单独运行环境。主要目的在于制造现场和现场支持，它共享主要工具的GUI，它能解码和解压缩分组测试文件。也能为一组板产生序列号和接口条形码读机，以支持跟踪能力或计算编程MAC地址。■（京湖）

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